[发明专利]振弦式位移传感器的温度影响修正方法在审

专利信息
申请号: 201710944516.5 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN107741209A 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 杨涛;谢元康;陈万庆;沈涛胜;韩中情;刘诗媛;郝天之 申请(专利权)人: 广西大学
主分类号: G01B17/00 分类号: G01B17/00
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司11340 代理人: 林德利
地址: 530007 广西壮族*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 振弦式 位移 传感器 温度 影响 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)测量出测试振弦的原始长度l和截面面积s;

2)将所述测试振弦拉紧并将其两端固定在振弦式位移传感器上;

3)通过频率测量装置测量所述测试振弦的第一振动频率为f0

4)对所述测试振弦施加测试外力使所述测试振弦产生位移改变量Δl′从而改变所述测试振弦的工作长度,通过温度测量装置测量所述测试振弦的温度改变量为t,通过频率测量装置测量出所述测试振弦的第二振动频率为f″;

按公式

Δl′=4ml3f′′2-4ml3f02es+ltα]]>

计算移改变量Δl′,式中,e为所述测试振弦的弹性模量,m为所述测试振弦的质量,a为所述测试振弦的膨胀系数。

2.如权利要求1所述的振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于,所述测试振弦为测试钢弦。

3.如权利要求1所述的振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于,所述步骤4)中的温度改变量t为所述测试振弦相对外界测试环境的温度改变量。

4.如权利要求1所述的振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于,所述步骤4)中的温度改变量t为所述测试振弦相对于所述位移传感器的温度改变量。

5.如权利要求1所述的振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于:所述位移传感器包括测试振弦、感应膜片以及底座,所述感应膜片固定安装于所述底座上,所述测试振弦的一端与所述底座固定连接,所述测试振弦的另一端连接所述感应膜片,所述测试振弦、所述感应膜片以及所述底座上分别设置有温度传感器。

6.如权利要求1所述的振弦式位移传感器的温度影响修正方法,其特征在于:所述测试振弦与所述底座通过螺纹紧固件固定连接,所述测试振弦与所述感应膜片通过螺纹紧固件固定连接。

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