[发明专利]用于确定谱图的方法和设备

说明书

本发明涉及用于确定包含一种或多种组成部分的样品的谱图的方法和设备，该方法和设备是基于该一种或多种组成部分经历物理过程或化学过程所需的时间。该谱图通过以下方式确定：通过调制单元将该样品分成检验物，对于这些检验物，能够根据调制模式(23)定时地相继启动该物理过程或化学过程，该调制模式是包括N个连续的调制函数(23.1，23.2，23.3)的函数，其中N为2或更大；在N个连续的循环(25.1，25.2，25.3)中用检测器测量该样品的这些组成部分完成该物理过程或化学过程时的时间，其中在相继的循环(25.1，25.2，25.3)中，每个循环(25.1，25.2，25.3)被指派给该调制模式(23)内这些调制函数(23.1，23.2，23.3)中的连续的一个调制函数，其中每个循环(25.1，25.2，25.3)与其所指派的调制函数(23.1，23.2，23.3)的起点(22.1，22.2，22.3)相比以时间上的偏置(26.1，26.2，26.3)开始，其中对于每个循环(25.1，25.2，25.3)而言该偏置(26.1，26.2，26.3)是不同的，其中该检测器提供检测器信号，该检测器信号提供在何时多少数目的组成部分已经完成了该物理过程或化学过程的信息，并且其中该检测器信号具有检测时间分辨率(31)，其中这些偏置(26.1，26.2，26.3)中的至少一个偏置具有不同于零、不同于该检测时间分辨率(31)且不同于该检测时间分辨率(31)的倍数的绝对值；以及用计算单元计算该检测器信号与该调制模式(23)的相关性。

技术领域

本发明涉及用于确定包含一种或多种组成部分的样品的谱图的方法和设备，该方法和设备是基于该一种或多种组成部分经历物理过程或化学过程所需的时间。

背景技术

关于上述技术领域的方法和设备是已知的。例如US 2009/0294647 A1(KarstenMichelmann)描述了一种与质谱仪联用的离子迁移谱仪和一种对应的测量方法。在此例中，样品包括离子。这些离子的束根据连续的调制函数进行调制，其中调制函数的调制频率在较大频率范围上变化。为了进行测量，经调制的离子束通过漂移区域，此后用质谱仪检测离子，该质谱仪用作离子迁移谱仪的检测器。为了获得离子迁移谱，将由检测器提供的检测器信号与用于对离子束进行初始调制的调制函数相关。

在US 7,417,222 B1(Sandia公司)中披露了另一种离子迁移谱仪和对应的方法。其中也根据调制函数来调制离子束并且将所测量的信号与调制函数相关。但是，与US2009/0294647 A1不同，调制函数也可以是二进制函数。

这些已知的方法和设备的共同点是样品包括离子。根据调制函数来调制这些离子的束。在调制之后，离子通过漂移区域并且在漂移区域的终点由检测器检测，该检测器提供检测器信号。通过计算调制函数与检测器信号的相关性，获得离子迁移谱。采用这种用于获得离子迁移谱的过程是因为(与直接测量离子的飞行时间的情况下不同)它不要求知道每种单独离子的开始时间。因此，可以使多于一个离子脉冲或包在同一时间通过漂移区域。其优点是，可以在同一时间段内测量多种离子的离子迁移率，由此能够得到更高的数据收集率。

然而，这些方法和设备的缺点是，所测量的谱图的分辨率受到限制。

发明内容

本发明的目的是创造与开篇提及的技术领域相关的方法和设备，该方法和设备能够以更好的分辨率和高数据收集速率来确定谱图。