[发明专利]光电探测器频率响应测量方法及装置

权利要求书

1.光电探测器频率响应测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、将光载波分为上、下两路；

步骤2、将频率为ω_e的微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号，对下路光载波进行频移量为Δω的频移操作；同时测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率P_M以及频移后的下路光载波的光功率P_A；

步骤3、将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器，并测出待测光电探测器输出信号中所包含的ω_e-Δω和ω_e+Δω这两个频率分量的功率P_UC、P_LC中的任意一个；

步骤4、利用以下公式计算出待测光电探测器在ω_e-Δω频率处的频率响应R(ω_e-Δω)或在ω_e+Δω频率处的频率响应R(ω_e+Δω)：

其中，Z_L为待测光电探测器的匹配阻抗。

2.如权利要求1所述方法，其特征在于，还包括：

步骤5、对所述微波信号的频率扫频并重复步骤1～步骤4，得到待测光电探测器的频谱响应。

3.光电探测器频率响应测量装置，其特征在于，包括：

光源，用于输出光载波；

光分束器，用于将所述光载波分为上、下两路；

微波源，用于输出频率为ω_e的微波信号；

调制单元，用于将所述微波信号强度调制于上路光载波上，生成载波抑制的光双边带调制信号；

频移单元，用于对下路光载波进行频移量为Δω的频移操作；

光合束器，用于将载波抑制的光双边带调制信号与频移后的下路光载波合束后输入待测光电探测器；

光功率测量单元，用于测出载波抑制的光双边带调制信号的光功率P_M以及频移后的下路光载波的光功率P_A；

微波功率测量单元，用于测出待测光电探测器输出信号中所包含的ω_e-Δω和ω_e+Δω这两个频率分量的功率P_UC、P_LC中的任意一个；

计算单元，用于利用以下公式计算出待测光电探测器在ω_e-Δω频率处的频率响应R(ω_e-Δω)或在ω_e+Δω频率处的频率响应R(ω_e+Δω)：

其中，Z_L为待测光电探测器的匹配阻抗。

4.如权利要求3所述装置，其特征在于，还包括：

扫频控制单元，用于对所述微波信号的频率扫频。

5.如权利要求3或4所述装置，其特征在于，所述调制单元为工作于最小传输工作点的马赫-曾德尔调制器。

6.如权利要求3或4所述装置，其特征在于，所述光功率测量单元包括与调制单元输出端连接的第一光功率计，以及与频移单元输出端连接的第二光功率计。

7.如权利要求3或4所述装置，其特征在于，所述微波功率测量单元为幅相接收机。