[发明专利]一种杆状物体垂直度的激光检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及激光检测技术领域，具体为一种杆状物体垂直度的激光检测装置。

背景技术

激光检测技术应用十分广泛，如激光干涉测长、激光测距、激光测振、激光测速、激光散斑测量、激光准直、激光全息、激光扫描、激光跟踪、激光光谱分析等都显示了激光测量的巨大优越性。激光外差干涉是纳米测量的重要技术。激光测量是一种非接触式测量，不影响被测物体的运动，精度高、测量范围大、检测时间短，具有很高的空间分辨率。

激光检测的应用范围十分广泛，物体垂直度的检测中使用激光检测十分方便，垂直度是表示零件上被测要素相对于基准要素，保持正确的90°夹角状况。也就是通常所说的两要素之间保持正交的程度。垂直度是形状公差，垂直度公差是：被测要素的实际方向，对于基准相垂直的理想方向之间，所允许的最大变动量。也就是图样上给出的，用以限制被测实际要素偏离垂直方向，所允许的最大变动范围，垂直度的要素一般为直线和平面。基准要素一般为平面，当然也可以是直线。垂直度评价直线之间、平面之间或直线与平面之间的垂直状态。其中一个直线或平面是评价基准，而直线可以是被测样品的直线部分或直线运动，平面可以是被测样品的平面部分或运动轨迹形成的平面，垂直度的测量方法有很多。市面上还有专门的测量垂直度的垂直度测量仪。但要看工件要求的公差是多少，如果公差范围很小的话，一般的测量仪器可能测量不出来。所以建议垂直度公差在0.05之内的，还是用激光测量仪来测量才有保证。

目前市场上用于测量物品垂直度的激光检测装置体积十分巨大，并且激光检测装置较为精密，成本造价较高，而随着仪器的使用，仪器的寿命也会逐渐减少，并且仪器会存在损坏的危险，而在一些简单的物体进行垂直度测量时使用这样精密的仪器会十分浪费，对此，提供一种简便式的激光检测装置不仅会减少成本，同时也会提高工作效率。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种杆状物体垂直度的激光检测装置，解决了市场上的激光检测装置较为复杂，成本较高的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种杆状物体垂直度的激光检测装置，包括固定杆，所述固定杆的侧面固定连接有上套环和下套环，所述上套环和下套环远离固定杆的一侧均螺纹连接有固定螺栓，所述固定杆的一侧面开设有凹槽，所述凹槽的内壁插接有第一转轴和第二转轴，所述第一转轴的表面固定连接有第一支撑杆，所述第二转轴的表面固定连接有第二支撑杆，所述第一支撑杆的侧面开设有第一滑槽，所述第一滑槽内卡接有第一滑块，所述第一滑块的表面插接有第三转轴，所述固定杆的表面插接有第四转轴，所述第三转轴与第四转轴通过第一连杆活动连接，所述第一支撑杆的正面固定连接有第一带座轴承，所述第一带座轴承内插接有第一螺杆，所述第一滑块的上表面固定连接有第一齿轨，所述第一齿轨与第一螺杆啮合，所述第二支撑杆的表面开设有第二滑槽，所述第二滑槽内卡接有第二滑块，所述第二滑块的表面插接有第五转轴，所述固定杆的正面插接有第六转轴，所述第五转轴与第六转轴通过第二连杆活动连接，所述第二支撑杆的正面固定连接有第二带座轴承，所述第二带座轴承内插接有第二螺杆，所述第二滑块的上表面固定连接有第二齿轨，所述第二齿轨与第二螺杆啮合，所述第一支撑杆和第二支撑杆上均固定连接有水平气泡仪，所述第一支撑杆的下表面固定连接有刻度尺，所述第二支撑杆的上表面固定连接有激光发射器。

优选的，所述上套环和下套环的形状和大小相同，且上套环与下套环以固定杆的中线为对称线对称设置。

优选的，所述第一滑槽和第二滑槽的形状为T形，所述第一滑块和第二滑块的形状与第一滑槽和第二滑槽的形状相符。

优选的，所述第一螺杆和第二螺杆远离固定杆的一端均固定连接有调节手柄。

优选的，所述刻度尺的精度为毫米，所述刻度尺的中心为零刻度，所述刻度尺以零刻度为中点对称设置有正负刻度。

优选的，所述第一支撑杆和第二支撑杆的长度相等，且第一支撑杆位于第二支撑杆的正上方。

优选的，所述激光发射器正对刻度尺的下表面，且激光发射器位于第二支撑杆的正中央。

优选的，所述上滑套和下滑套的形状均为多棱柱，且上滑套和下滑套优选为正四棱柱。

(三)有益效果

本发明提供了一种杆状物体垂直度的激光检测装置。具备以下有益效果：