[发明专利]一种P型双面晶硅太阳电池的制作工艺在审
申请号: | 201710957062.5 | 申请日: | 2017-10-16 |
公开(公告)号: | CN107785457A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 褚玉壮;何晨旭;赫汉;吴泓;朱波兴 | 申请(专利权)人: | 浙江昱辉阳光能源江苏有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/0216 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 | 代理人: | 任立 |
地址: | 214203 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双面 太阳电池 制作 工艺 | ||
1.一种P型双面晶硅太阳电池的制作工艺,其特征在于, 该P 型双面晶硅太阳电池的制作工艺具体包括以下步骤:
(1)P型硅衬底双面制绒和氧化
选择电阻率为0.4-1Ω/cm 的P 型硅片,并用1.0-1.5% 的氢氧化钾溶液在80℃下对P型单晶硅表面进行化学腐蚀,制备出金字塔形状的陷光结构绒面,随后再用稀释的15% 的盐酸和氢氟酸进行清洗,除去表面杂质,再用60℃的温水进行浸泡慢提脱水氧化;
(2)在P型硅衬底的前表面先进行单面硼扩散,形成P+层
在硼源体系扩散炉中在1000-1200℃的温度下,采用三溴化硼对P型硅衬底的前表面进行硼扩散形成P+层,再对P 型硅衬底的另外一面背表面进行常规的800-850℃三氯氧磷磷扩散形成PN结,使其方阻范围是60-100Ω/□;
(3)磷硅玻璃和背面PN 结、侧面PN 结的去除
在单面刻蚀的设备中,采用氢氟酸和硝酸的混合溶液,刻蚀P型硅片的背表面和边缘,去掉背面和侧面多余的PN,再用HF酸去除表面和背面的磷硅玻璃,结束后对其双面进行臭氧氧化形成氧化硅层;
(4)沉减反射膜:
在P型硅衬底上的PN 结一侧采用等离子化学气相沉积氮化硅膜,氮化硅膜作为减反射膜,膜的厚度为80nm;
(5)制备电池的负极
采用印刷技术在经步骤(4)处理后得到的氮化硅膜表面印刷含银浆料的电池负极,并在850-900℃下烧结刺穿电池正面达到N型衬底;
(6)制备背面透明导电薄膜
用PVD对电池背面进行背面溅射镀透明导电薄膜;
(7)制备电池的正极:
采用印刷技术在经步骤(6)处理后得到的透明导电薄膜表面印刷含银浆料的电池正极,并在温度250-400℃下刺进透明导电薄膜层。
2.根据权利要求1所述的P型双面晶硅太阳电池的制作工艺,其特征在于:步骤(3)所述的氢氟酸和硝酸的混合溶液中按质量比计氢氟酸:硝酸=2:1,其中,所述氢氟酸采用5-10%的氢氟酸,所述硝酸采用5-10%的硝酸。
3.根据权利要求1所述的P型双面晶硅太阳电池的制作工艺,其特征在于:该制作工艺制作出的P 型双面晶硅太阳电池包括P型硅衬底(1)、N型硅衬底(2)、P+层(3)、氧化层(4)、氮化硅膜(5)及透明导电薄膜(6),所述P型硅衬底(1)的一侧设置有N型硅衬底(2),所述P型硅衬底(1)的另一侧设置有P+层(3),所述N型硅衬底(2)及P+层(3)上远离P型硅衬底(1)的一侧分别设置有所述氧化层(4),所述氮化硅膜(5)设置于临近N型硅衬底(2)的氧化层(4)表面,所述透明导电薄膜(6)设置于临近P+层(3)的氧化层(4)上,所述氮化硅膜(5)上还设置有电池负极(7),所述电池负极(7)刺穿达到所述N型硅衬底(2)内,所述透明导电薄膜(6)上还设有电池正极(8),所述电池正极(8)刺穿达到所述透明导电薄膜(6)内,其中:
所述的P+层(3)的材质为重掺杂硅,所述氧化层(4)为氧化硅层。
4.根据权利要求1或3所述的P型双面晶硅太阳电池的制作工艺,其特征在于:所述的透明导电薄膜为ITO。
5.根据权利要求1所述的P型双面晶硅太阳电池的制作工艺,其特征在于:步骤(7)的含银浆料为低温银浆,烧结温度为200-400℃。
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