[发明专利]一种全麦粉品质的中红外光谱检测方法在审

专利信息
申请号: 201710958658.7 申请日: 2017-10-16
公开(公告)号: CN107741408A 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 方勇;潘鑫;徐希旺;吴亚君;胡秋辉 申请(专利权)人: 南京财经大学
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 江苏圣典律师事务所32237 代理人: 邓丽,王伟
地址: 210023 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 麦粉 品质 红外 光谱 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种全麦粉品质的中红外光谱检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1,收集国内外全麦粉、小麦粉样品,将样品集分为训练样品集、验证样品集;

步骤2,按照国家标准方法测定所有样品中的灰分含量;

步骤3,采集所有样品集的中红外光谱数据;

步骤4,用化学计量学软件对训练样品集数据结构分析,选择光谱预处理软件;

步骤5,将训练样品集中样品的中红外光谱数据与标准方法测定的灰分相关联,利用化学计量学软件建立中红外光谱校正模型;

步骤6,将所述验证样品集在校正模型中进行验证,获取模型性能参数。

2.根据权利要求1所述的全麦粉品质的中红外光谱检测方法,其特征在于:如步骤3所述中红外光谱数据采集是指通过傅里叶红外光谱仪600~3000cm-1的波数范围获取的MIR漫反射光谱指纹。

3.根据权利要求1所述的全麦粉品质的中红外光谱检测方法,其特征在于:如步骤4所述光谱预处理采用二阶导数处理,主因子数为6。

4.根据权利要求1所述的全麦粉品质的中红外光谱检测方法,其特征在于:如步骤5所述将每个样品的中红外光谱数据与标准方法测定的灰分相关联,利用TQ Analyst v6光谱分析软件中偏最小二乘法建立校正模型。

5.根据权利要求1所述的全麦粉品质的中红外光谱检测方法,其特征在于:如步骤6所述模型的性能参数包括定标集相关系数Rc2、校正集预测均方根误差RMSEC、验证集预测均方根误差RMSEP、验证集样品残差。

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