[发明专利]用于生成X射线图像数据的方法

权利要求书

1.一种用于通过一个X射线系统(2)来生成X射线图像数据的方法，所述X射线系统(2)包括一个X射线源(4)和一个X射线检测器(6)，所述X射线检测器(6)具有多个有规律排列的像素(8)，其中

-一个具有多个参数的数学散射辐射模型被指定(A)，

-一个测试对象(14)通过所述X射线系统被扫描，以生成一个第一原始数据集(B1)，

-所述测试对象(14)通过所述X射线系统被扫描，以生成一个第二原始数据集，其中为了生成所述第二原始数据集，一个X射线掩模(12)被插入在所述X射线源(4)与所述测试对象(14)之间，所述X射线掩模(12)具有对X射线透明的至少一个第一区域(16)，并且具有对X射线不透明的至少一个第二区域(18)(B2)，

-对于所述散射辐射模型的所述多个参数的多个参数值的确定一方面是基于所述第一原始数据集，而另一方面是基于所述第二原始数据集，所述散射辐射模型利用所述多个参数值而被校准(B3)，

-一个检查对象(14)通过所述X射线系统(2)被扫描，以生成一个第三原始数据集(C1)，

-所述第三原始数据集通过经校准的所述散射辐射模型被处理，以生成一个经校正的第三原始数据集(C2)，以及

-基于所述经校正的第三原始数据集，一组X射线图像数据从所述检查对象(14)被生成(C3)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中

-至少一个另外的检查对象通过所述X射线系统(2)被扫描，以生成一个另外的原始数据集(C1)，

-每个另外的原始数据集通过经校准的散射辐射模型被处理，以生成一个相关联的经校正的原始数据集(C2)，以及

-基于每个经校正的原始数据集，相关联的一组X射线图像数据从对应的所述检查对象(14)被生成(C3)。

3.根据权利要求1或2所述的方法，

其中所述数学散射辐射模型由一个校正函数表征，利用所述校正函数，来校正为获得一个原始数据集、而利用所述X射线检测器(6)的具有坐标u和v的一个像素(8)测量的强度I(u,v)，这样校正的强度I_K(u,v)被用于生成对应的校正原始数据集。

4.根据权利要求3所述的方法，

其中所述校正函数包括一个校正项K_S(u,v)，所述校正项K_S(u,v)描述经测量的所述强度I(u,v)在所述校正期间要被去除的一个分量，所述分量由来自所述X射线检测器(6)外部的、碰撞具有所述坐标u和v的所述像素(8)的散射辐射引起。

5.根据权利要求4所述的方法，

其中所述校正项Ks(u，v)＝f(P1(G_P2*I)(u，v))被指定为一个函数f，其中所述函数的自变量被指定为：2D高斯函数G_P2(u,v)与经测量的所述强度I(u,v)的卷积再与第一参数P1的乘积，并且其中第二参数P2对应于所述2D高斯函数的标准差。

6.根据权利要求5所述的方法，

其中所述函数f是一个线性函数。

7.根据权利要求5所述的方法，

其中所述校正函数包括一个校正项K_U(u,v)，所述校正项K_U(u,v)描述经测量的所述强度I(u,v)的、在所述校正期间要被去除的一个分量，其中所述分量由所述X射线检测器(6)中的环境对具有所述坐标u和v的所述像素(8)的影响引起。

8.根据权利要求7所述的方法，

其中获取2D高斯函数G_P2(u,v)与经测量的所述强度I(u,v)的卷积与第一参数P1相乘的乘积作为所述校正项K_U(u，v)＝P1(G_P2*I)(u，v)，其中第二参数P2对应于所述2D高斯函数的所述标准差。