[发明专利]一种石墨烯缺陷的检测方法有效
| 申请号： | 201710963532.9 | 申请日： | 2017-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN107764849B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 郑绍辉;邱梧柯 | 申请（专利权）人： | 西南大学 |
| 主分类号： | G01N24/08 | 分类号： | G01N24/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵青朵 |
| 地址： | 400715*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 石墨 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种石墨烯缺陷的检测方法，其特征在于，包括：
1)将待测的石墨烯通过核磁共振进行检测，得到石墨烯中化学位移大于120.09的各个碳的化学位移；
2)将步骤1中得到的化学位移大于120.09的各个碳的化学位移进行标准差计算，得到标准差；
3)当步骤2)得到的标准差为4.84～8.44时，待测的石墨烯为双空位缺陷，
当步骤2)得到的标准差为5.93～8.90时，待测的石墨烯为拓扑缺陷，
当步骤2)得到的标准差为50.37～84.05时，待测的石墨烯为单空位缺陷。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤3)中单空位缺陷的标准差为50.37～84.05的检测结果按照以下方法得到：
3-a-1)得到具有式(P-1)和式(P-2)所示球棍模型的完美石墨烯中的各个碳原子的化学位移值，
3-a-2)得到具有式(SV-1)和式(SV-2)所示球棍模型的单空位缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值，
3-a-3)通过步骤3-a-1)中得到的各个完美石墨烯中的碳的化学位移值以及步骤3-a-2)得到的单空位缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值得到单空位缺陷处碳原子的标准差为50.37～84.05。
3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤3)中拓扑缺陷的标准差为5.93～8.90的检测结果按照以下方法得到：
3-b-1)得到具有式(P-1)和式(P-2)所示球棍模型的完美石墨烯中各个碳原子的化学位移值，
3-b-2)得到具有式(SW-1)和式(SW-2)所示球棍模型的拓扑缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值，
3-b-3)通过步骤3-b-1)中得到的各个完美石墨烯中的碳的化学位移值以及步骤3-b-2)得到的拓扑缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值得到拓扑缺陷处碳原子的标准差为5.93～8.90。
4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤3)中双空位缺陷的标准差为4.84～8.44的检测结果按照以下方法得到：
3-c-1)得到具有式(P-1)和式(P-2)所示球棍模型的完美石墨烯中各个碳原子的化学位移值，
3-c-2)得到具有式(DV-1)和式(DV-2)所示球棍模型的双空位缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值，
3-c-3)通过步骤3-c-1)中得到的各个完美石墨烯中的碳的化学位移值以及步骤3-c-2)得到的双空位缺陷石墨烯中的各个碳原子的化学位移值得到双空位缺陷处碳原子的标准差为4.84～8.44。
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