[发明专利]一种气密性检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及气密性检测技术领域，更具体地，本发明涉及一种气密性检测装置。

背景技术

目前，智能手表、智能手环等电子产品深受大众追捧，各大公司不断推出新型产品。此类产品需要在产品半成品状态进行气密性检测，以提前筛选出不良品。

对半成品进行气密性检测能在半成品状态分析易泄露位置、泄露影响因素等。方便在进行整机气密性检测的时候，排除掉半成品状态泄露因素的影响。方便寻找泄露点，针对泄露点进行产品的优化和改善，提高出货成功率。

半成品气密性检测有如下难点：

产品半成品状态，有一开口(与产品另一部分的结合处)需要密封，此开口有可能形状规则，也可能形状不规则，密封难度大。

产品半成品状态因缺失部分部件或者产品本身需要，会有一些通孔。在进行气密性检测时，这些通孔需要密封。对这些通孔的现有密封方法一般为手动或者自动贴膜，费时、费力、费钱，而且密封效果差。

产品半成品状态的通孔和开口位置均需要密封。目前对半成品上的通孔和开口实行分别密封，操作程序繁琐、复杂，效率极低。

此外，为保证每个产品的测试准确率、避免重复检测，还需要对产品进行扫码标识。半成品的被检测所处位置和被扫码所处位置可能不同，导致半成品需要在两个位置之间进行流转，加大检测难度。

因此，有必要设计一种气密性检测装置，以在产品半成品状态下进行气密性检测。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种气密性检测装置的新技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种气密性检测装置。该气密性检测装置包括：承载半成品的下盖，在所述下盖上设有第一密封件；上盖，在所述上盖上设有第二密封件；第一传动件，所述第一传动件被配置为能带动所述上盖移动至与所述下盖盖接共同围成收纳半成品的容纳腔，并且使所述第一密封件和第二密封件分别密封半成品上的开口和通孔。

可选地，还包括气密性检测仪，所述第二密封件包括设置于所述上盖上的凸台，在所述上盖上还设有第二通道，所述第二通道将所述容纳腔与所述气密性检测仪接通。

可选地，所述上盖组装有安装板，所述第二密封件组装于所述安装板上；或者，所述第二密封件一体设置于所述上盖上。

可选地，在所述下盖上设有定位槽，所述第一密封件包括安装于所述定位槽内的第一密封圈，所述第一密封圈被配置为在所述上盖与所述下盖盖接时能密封隔离所述容纳腔与半成品的开口；在所述下盖上还设有第一通道，所述第一通道被配置为能使半成品的开口与外界导通。

可选地，在所述第一密封圈的表面设置有突起，所述凸起沿所述第一密封圈的周向间隔分布。

可选地，所述第一传动件被配置为能带动所述第二密封件压紧半成品，并且使半成品压紧第一密封件。

可选地，在所述下盖上设有限定半成品放置位置的定位件。

可选地，在所述上盖和下盖上分别设有多组相匹配的定位轴和定位孔。

可选地，在所述下盖与所述上盖之间设有密封所述容纳腔的第二密封圈。

可选地，还包括导轨、扫描模组和带动所述下盖沿导轨往复移动的第二传动件；所述第二传动件被配置为能带动所述下盖移动至扫码位置；所述扫描模组被配置为能对位于所述扫码位置的半成品进行扫码；所述第二传动件被配置为在所述扫描模组扫码成功后才能带动所述下盖移动至检测位置；所述第一传动件被配置为能带动所述上盖移动至与位于所述检测位置的下盖盖接。

本发明的发明人发现，在产品半成品状态，半成品上的通孔和开口均需要密封。其密封方法为手动或者自动贴膜等，效率低、密封效果差。通孔和开口分别被密封，需要经过多次翻转或者流转程序，流程繁琐、复杂，效率极低。因此，本发明所要实现的技术任务或者所要解决的技术问题是本领域技术人员从未想到的或者没有预期到的，故本发明是一种新的技术方案。

根据本公开的一个实施例，半成品承载于下盖，第一传动件能带动上盖移动至与下盖盖接共同围成收纳半成品的容纳腔。通过上盖与下盖之间的自动盖接，第一密封件和第二密封件能分别自动密封半成品上的开口和通孔。容纳腔与开口、通孔之间不会导通，以进行气密性检测。密封效果佳。检测效率高。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明一种实施例中提供的气密性检测装置的结构示意图；