[发明专利]一种磁芯矩形比的测试方法及系统

权利要求书

1.一种磁芯矩形比的测试方法，其特征在于，具体步骤如下：

1S.以被测磁芯样品为中心环形绕制两组线圈，分别为励磁线圈和测量线圈；

2S.对于励磁线圈，接入频率范围为20～100kHz的正向半波励磁电源；对于测量线圈，接入毫伏表以定量分析被测磁芯的矩形比；

3S.在一定频率的正向半弦波励磁电流下，被测磁芯样品的磁化曲线一直沿第一象限内Br值与Bs值之间往复循环运动；对于线圈横截面面积S、频率f及线圈匝数N等参数为定值的工况，被测磁芯样品的ΔBrs与感应电压值ΔU成如式1所示的线性关系：

ΔU＝4.44·f·N·ΔBrs·S(1)。

2.根据权利要求1所述的一种磁芯矩形比的测试方法，其特征在于，所述的所述的两组线圈匝数范围均为1～15匝。

3.一种包含权利要求1或2的磁芯矩形比的测试方法的测试系统，其特征在于，包括稳压交流电源、二极管、标准电阻与励磁线圈串联成闭合电路形成的励磁端，测量线圈和毫伏表串联成闭合电路形成的测量端，励磁线圈和测量线圈分别绕制被测磁芯样品的两端。

4.根据权利要求3所述的磁芯矩形比测试系统，其特征在于，所述的二极管采用SMB型DO‐214贴片整流二极管。

5.根据权利要求3所述的磁芯矩形比测试系统，其特征在于，所述的标准电阻采用金属膜电阻，其功率为0.25W，阻值1Ω，精度达0.1％。

6.根据权利要求3所述的磁芯矩形比测试系统，其特征在于，所述的毫伏表测试频率范围为20Hz～100kHz。