[发明专利]一种试验数据一致性检测方法有效
申请号: | 201710975998.0 | 申请日: | 2017-10-19 |
公开(公告)号: | CN107807972B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 时鹏;仲华强;张明媚 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G06F16/23 | 分类号: | G06F16/23;G06F16/90 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 试验 数据一致性 检测 方法 | ||
1.一种试验数据一致性检测方法,其特征在于,包括:
根据试验数据不一致的原因,构建试验数据一致性理论体系,其中,所述数据不一致的原因包括:存储格式不一致和数值不一致,所述试验数据为数据集合,所述数据集合由一个或多个数据单元组成,所述试验数据一致性理论体系包括:试验数据一致性评判原则;
获取待检测的试验数据;
对获取的所述待检测的试验数据在存储格式和数值一致度方面进行量化,其中,所述一致度为度量两个数据对象之间一致性程度的量,所述两个数据对象为两个数据单元、一个数据集合中的数据单元和另一个数据集合、或两个数据集合;
按照所述试验数据一致性评判原则,根据量化结果,确定两个数据单元之间、一个数据集合中的数据单元和另一个数据集合之间、和/或两个数据集合之间的一致性程度;
其中,量化存储格式的一致性程度包括:
按照预先确定的存储格式之间的一致性程度对应关系,确定两个数据对象在存储格式上的一致性程度量化值;
量化数值的一致性程度包括:
计算两个数据单元中相对应的数据项之间的相对偏差δ,所述δ表示为:
其中,xik表示第一个数据单元中的某数据项,xjk表示第二个数据单元中与第一个数据单元中xik相对应的数据项;
对第一个数据单元中所有数据项计算出相对偏差后求平均值,得到两个数据单元之间的平均偏差所述表示为:
其中,n表示第一个数据单元中数据项的数目,δn表示第一个数据单元中第n个数据项对应的相对偏差;
按照预先确定的数据单元之间的平均偏差与数值一致性程度量化值之间的映射关系,得到所述两个数据单元在数值上的一致性程度量化值;
其中,所述试验数据一致性评判原则包括:数据单元之间的一致性评判原则、数据单元与数据集合之间的一致性评判原则、数据集合之间的一致性评判原则;
所述数据单元之间的一致性评判原则包括:数据单元之间的完全一致性、数据单元之间的强一致性、数据单元之间的弱一致性;其中,
所述数据单元之间的完全一致性,用于表示两个数据单元的存储格式和数值都相同;
所述数据单元之间的强一致性,用于表示两个数据单元的存储格式不同,在经过存储格式转化后,两个数据单元的数值相同;
所述数据单元之间的弱一致性,用于表示两个数据单元的存储格式不同,在经过存储格式转化后,两个数据单元之间的平均偏差在预设的第一阈值范围内;
所述数据单元与数据集合之间的一致性评判原则包括:数据单元与数据集合之间的完全一致性、数据单元与数据集合之间的强一致性、数据单元与数据集合之间的弱一致性;其中,
设数据单元为数据单元a,数据集合为数据集合B,且
所述数据单元与数据集合之间的完全一致性,用于表示数据单元a与数据集合B中的某一个数据单元在存储格式和数值上都相同;
所述数据单元与数据集合之间的强一致性,用于表示数据单元a与数据集合B的存储格式不同,在经过存储格式转化后,数据单元a与数据集合B中的某一个数据单元在数值上相同;
所述数据单元与数据集合之间的弱一致性,用于表示数据单元a与数据集合B的存储格式不同,在经过存储格式转化后,数据单元a与数据集合B中的某一个数据单元之间的平均偏差在预设的第二阈值范围内;
所述数据集合之间的一致性评判原则包括:数据集合之间的完全一致性、数据集合之间的强一致性、数据集合之间的弱一致性;其中,
设数据集合包括:数据集合A和数据集合B,数据集合A={ai},i=1,2,...,m;和数据集合B={bj},j=1,2,...,n,mn;
所述数据集合之间的完全一致性为:数据集合A中的任一数据单元ai在数据集合B中都有与其对应完全一致的数据单元;
所述数据集合之间的强一致性为:数据集合A中的任一数据单元ai在数据集合B中在数值上都有与其相同的数据单元bj;
所述数据集合之间的弱一致性为,数据集合A和数据集合B存储格式相同,数据集合A中任一数据单元ai都能在允许数值偏差内找到与其偏差最小的数据单元bj;或,数据集合A和数据集合B存储格式不相同,在经过存储格式转换后,数据集合A中任一数据单元ai都能在允许数值偏差内找到与其偏差最小的数据单元bj。
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