[发明专利]一种批量白色背光零件的测试方法和测试设备

权利要求书

1.一种批量白色背光零件的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取白色背光样件的色坐标与所述白色背光样件中的白色LED的色坐标之间的偏移量；

基于所述偏移量的横纵坐标与所述白色LED的BIN区域的轮廓的多个顶点的色坐标中的横纵坐标之和，确定批量白色背光零件的颜色区域，其中，所述批量白色背光零件是根据所述BIN区域生产的；

判断所述颜色区域和预设颜色区域之间的重叠区域与所述颜色区域的面积之比是否超过预设阈值，若超过，则判定所述批量白色背光零件的颜色合格，否则判定所述批量白色背光零件的颜色不合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取白色背光样件的色坐标与所述白色背光样件中的白色LED的色坐标之间的偏移量包括：

获取所述白色背光样件中的每个样件的色坐标，得到第一色坐标集合；以及

获取所述每个样件中的白色LED的色坐标，得到第二色坐标集合；

根据所述第一色坐标集合和所述第二色坐标集合，获取所述偏移量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一色坐标集合和所述第二色坐标集合，获取所述偏移量包括：

计算所述第一色坐标集合与所述第二色坐标集合之间的横坐标平均值差值和纵坐标平均值差值；

根据所述横坐标平均值差值和所述纵坐标平均值差值，确定所述偏移量。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一色坐标集合和所述第二色坐标集合，获取所述偏移量包括：

计算所述第一色坐标集合与所述第二色坐标集合之间的横坐标差值平均值和纵坐标差值平均值；

根据所述横坐标差值平均值和所述纵坐标差值平均值，确定所述偏移量。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述颜色区域和预设颜色区域之间的重叠区域与所述颜色区域的面积之比是否超过预设阈值步骤之前，所述方法还包括：

判断所述颜色区域是否全部包含在所述预设颜色区域内，若是，则判定所述批量白色背光零件的颜色合格，否则判断所述重叠区域与所述颜色区域的面积之比是否超过所述预设阈值。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在色坐标图中，根据预设显示方式显示所述批量白色背光零件的颜色区域、所述预设颜色区域与所述重叠区域。

7.一种批量白色背光零件的测试设备，其特征在于，所述设备包括：

获取模块，用于获取白色背光样件的色坐标与所述白色背光样件中的白色LED的色坐标之间的偏移量；

确定模块，用于基于所述偏移量的横纵坐标与所述白色LED的BIN区域的轮廓的多个顶点的色坐标中的横纵坐标之和，确定批量白色背光零件的颜色区域，其中，所述批量白色背光零件是根据所述BIN区域生产的；

判断模块，用于判断所述颜色区域和预设颜色区域之间的重叠区域与所述颜色区域的面积之比是否超过预设阈值，若超过，则判定所述批量白色背光零件的颜色合格，否则判定所述批量白色背光零件的颜色不合格。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述获取模块包括：

第一获取子模块，用于获取所述白色背光样件中的每个样件的色坐标，得到第一色坐标集合；

第二获取子模块，用于获取所述每个样件中的白色LED的色坐标，得到第二色坐标集合；

第三获取子模块，用于根据所述第一色坐标集合和所述第二色坐标集合，获取所述偏移量。

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述第三获取子模块具体用于：

计算所述第一色坐标集合与所述第二色坐标集合之间的横坐标平均值差值和纵坐标平均值差值；

根据所述横坐标平均值差值和所述纵坐标平均值差值，确定所述偏移量。

10.一种批量白色背光零件的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括存储器以及与所述存储器连接的处理器，其中所述存储器用于存储一组程序代码，所述处理器调用所述存储器所存储的程序代码用于执行以下操作：

获取白色背光样件的色坐标与所述白色背光样件中的白色LED的色坐标之间的偏移量；

基于所述偏移量的横纵坐标与所述白色LED的BIN区域的轮廓的多个顶点的色坐标中的横纵坐标之和，确定批量白色背光零件的颜色区域，其中，所述批量白色背光零件是根据所述BIN区域生产的；

判断所述颜色区域和预设颜色区域之间的重叠区域与所述颜色区域的面积之比是否超过预设阈值，若超过，则判定所述批量白色背光零件的颜色合格，否则判定所述批量白色背光零件的颜色不合格。