[发明专利]用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法

权利要求书

1.用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于包括以下步骤：

A、准备与需要检测其故障的电路板相同的、无故障的标准板；

B、将标准板的板面上的各个外露的导电部作为VI曲线的检测点；

C、测量标准板板面上的各个VI曲线的检测点与标准板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；

D、根据存储的各个VI曲线的检测点在该标准板上的位置坐标，在需要检测的待测电路板的板面上，按照同样或等效的位置坐标作为VI曲线的检测点测量待测电路板板面上的各个VI曲线的检测点与待测电路板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的待测电路板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；

E、将待测电路板的双点VI曲线信息与相同位置坐标的标准板的双点VI曲线信息进行对比，如发现待测电路板板面上的某位置坐标的待测电路板的双点VI曲线信息与同样或等效位置坐标的标准板的双点VI曲线信息相同或相似，则表明该待测电路板上与对应位置坐标关联的二个VI曲线的检测点之间的连接电路上的元器件没有故障；

如发现待测电路板板面上的某位置坐标的待测电路板的双点VI曲线信息与同样或等效位置坐标的标准板的双点VI曲线信息不相同或不相似，则表明该待测电路板上与对应位置坐标关联的二个VI曲线的检测点之间的连接电路上的元器件有故障。

2.根据权利要求1所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：如果有多种需要检测维修的电路板，可对每种电路板都准备出一个或多个电路板；

在测量标准板板面上的各个VI曲线的检测点与标准板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息时，可进行分别1次或2次或3次或更多次的检测，也可用2个或3个或更多个与需要检测其故障的电路板相同的、无故障的标准板、分别对每个标准板进行分别1次或2次或3次或更多次的检测，并储存所有的测量到的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标。

3.根据权利要求2所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：所述步骤A中还包括存储所述标准板的图片，标记并存储该标准板上的所有元器件在该标准板上的位置坐标。

4.根据权利要求3所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：所述步骤B中所述外露的导电部为电路板板面上的焊盘、电路板板面上过孔处的连接导线和电路板板面上外露的连接导线。

5.根据权利要求1至4中任何一项所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：所述步骤C中还包括在储存测量到的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标之前，对测量到的标准板的双点VI曲线信息进行筛选，删除掉标准板的双点VI曲线信息中两个VI曲线的检测点间的电路呈开路状态的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标；当标准板上的两个VI曲线的检测点间的电路呈短路状态时，则删掉所有的包含了其中一个VI曲线检测点的VI曲线和与之相关联的VI曲线的检测点的位置坐标，再将剩下的标准板的双点VI曲线信息和与之相关联的VI曲线的检测点的位置坐标存储起来。

6.根据权利要求5所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：所述步骤C中还包括储存测量标准板的双点VI曲线信息所采用的电压激励信号的特性；所述步骤D中还包括根据存储的测量标准板的双点VI曲线信息所采用的电压激励信号的特性、用标准板所采用的电压激励信号测量待测电路板板面上的各个VI曲线的检测点与待测电路板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的待测电路板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标。

7.根据权利要求1至4中任何一项所述的用于各种电路板的双点VI曲线扫描比对故障诊断方法，其特征在于：所述步骤C中还包括储存测量标准板的双点VI曲线信息所采用的电压激励信号的特性；所述步骤D中还包括根据存储的测量标准板的双点VI曲线信息所采用的电压激励信号的特性、用标准板所采用的电压激励信号测量待测电路板板面上的各个VI曲线的检测点与待测电路板板面上的其他VI曲线的检测点之间的双点VI曲线信息，并储存测量到的待测电路板的双点VI曲线信息和与之相关联的二个VI曲线的检测点的位置坐标。