[发明专利]一种旁路检测方法及装置

权利要求书

1.一种旁路检测方法，其特征在于，包括：

提取待测电路的第一最大延迟路径，并计算所述第一最大延迟路径的第一最大工作频率；

根据所述第一最大延迟路径对所述待测电路进行功耗测试，并根据功耗测试结果计算所述待测电路的第一动态电流值；

获取所述第一最大工作频率所对应的目标动态电流阈值，并判定所述第一动态电流值和所述目标动态电流阈值的电流误差值是否在误差允许范围内；

若是，确定所述待测电路中不含硬件木马；

若否，确定所述待测电路中含有硬件木马；

其中，所述根据所述第一最大延迟路径对所述待测电路进行功耗测试，并根据功耗测试结果计算所述待测电路的第一动态电流值，包括：

以预先确定的静态测试向量对所述待测电路进行功耗测试，得到所述待测电路的最小静态电流值；

以预先基于所述第一最大延迟路径确定的动态测试向量对所述待测电路进行功耗测试，得到所述待测电路的最大动态电流值；

根据所述最小静态电流值和所述最大动态电流值，计算所述待测电路的第一动态电流值，所述第一动态电流值为所述最大动态电流值与所述最小静态电流值的差值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取待测电路的第一最大延迟路径，包括：

对所述待测电路进行综合后网表时序分析，得到至少一个延迟路径；

计算各个所述延迟路径的延迟时长；

选取延迟时长最大的延迟路径作为所述待测电路的第一最大延迟路径。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先确定静态测试向量的过程，包括：

对于预设候选静态测试向量集合中的每一个候选静态测试向量，以该候选静态测试向量对所述待测电路进行功耗测试，并获取所述待测电路在该候选静态测试向量下的静态电流值；

选取静态电流值最小的候选静态测试向量作为静态测试向量。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，预先基于所述第一最大延迟路径确定动态测试向量的过程，包括：

对于预设动态测试向量集合中的每一个候选动态测试向量，以该候选动态测试向量对所述待测电路进行功耗测试，并获取所述待测电路在该候选动态测试向量下的动态电流值；

计算在该候选动态测试向量下所述第一最大延迟路径和所述待测电路中非最大延迟路径之间的最大频率差值；

选取最大频率差值最大的候选动态测试向量作为动态测试向量。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一最大工作频率所对应的目标动态电流阈值，包括：

从预先建立的黄金电路特性曲线上获取所述第一最大工作频率所对应的目标动态电流阈值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，预先建立黄金电路特性曲线的过程，包括：

提取所述黄金电路的至少一个第二最大延迟路径；

对于所提取的每一个所述第二最大延迟路径，计算该第二最大延迟路径的第二最大工作频率；

按照该第二最大延迟路径对所述黄金电路进行功耗测试，并根据功耗测试结果计算所述黄金电路的第二动态电流值；

将所述第二动态电流值作为该第二最大延迟路径对应的动态电流阈值；

根据各个所述第二最大延迟路径的第二最大工作频率和动态电流阈值，建立黄金电路特性曲线。