[发明专利]一种单圈绝对编码式电子经纬仪的测角信号处理方法有效
申请号: | 201710981533.6 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107941196B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 袁鹏飞;雷仲魁 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学;南京晓庄学院 |
主分类号: | G01C1/06 | 分类号: | G01C1/06;G01C1/04 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 施昊 |
地址: | 210016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝对 编码 电子 经纬仪 信号 处理 方法 | ||
1.一种单圈绝对编码式电子经纬仪的测角信号处理方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)在编码盘过圆心的径向对称位置设置2个CCD读头,采样2个CCD读头读入的编码盘明暗条纹数据;
(2)分别对2组数据进行处理,提取每组数据的粗码结果和细分估计,再将粗码结果与细分估计相加,得到一个CCD读头的角度输出;具体过程如下:
(201)对某一个CCD读头读入的像元数据x(n)作加窗滤波处理,得到滤波后的数据y(n),去除噪声污染,其中,y(n)=x(n)*h(n),h(n)为窗函数系数,n表示第n个刻划脉冲;
(202)在该CCD读头的中心位置附近设置一条固定的检测线xc,以该检测线位置为参考原点建立直角坐标系,其中,坐标系的横轴为像素索引号与xc的差值,纵轴为滤波后的像元数据y(n);
(203)找出{y(n)}中的最大值,记为vMax,将vMax乘以常数k得到一条固定阈值线vTop=k×vMax;
(204)找出第n个刻划脉冲左右边沿在阈值线vTop附近的4个采样点,分别记为:左下点A1,左上点A2,右上点A3,右下点A4;其中,左下点A1和右下点A4为第n个刻划脉冲左右边沿在阈值线vTop下方的2个采样点,左上点A2和右上点A3为第n个刻划脉冲左右边沿在阈值线vTop上方的2个采样点,A1与A2所确定的直线与vTop线的交点,记为B,A3与A4所确定的直线与vTop线的交点,记为C,分别求解B、C的横坐标xnL和xnR;
(205)计算第n个刻划脉冲的脉宽D(n)=|xnR-xnL|,由于编码盘有两种不同宽度的刻划分别表示数字量“0”和“1”,因此对D(n)作二值化判决处理,得到脉冲编码;
(206)以检测线xc为中心,选取检测线右侧最与之靠近的N个刻划脉冲,由这N个脉冲编码组成粗码,将此粗码在粗码表中进行搜索以获取该粗码在码表中的位置m,得到粗测结果Ph0=360.°×m/M,其中,N大于编码盘编码位宽,M为码盘刻线数;
(207)对第n个刻划脉冲的xnL和xnR求两者平均,估计出该刻划中心E(n)=(xnL+xnR)/2;假设在CCD读头视野范围内一共观测了ktotall个刻划,以检测线xc为中心往两侧共选取p个刻划脉冲组成待处理刻划组,所选择的刻划组里第一个刻划编号为kstart,最后一个刻划编号为kstart+p-1,1≤kstart<kstart+p-1≤ktotall;将该刻划组里的刻划编号设为横坐标,刻划中心设为纵坐标,组成p个坐标点集合:{(x1,y1),(x2,y2),...,(xp,yp)},再将此坐标点集合数据做最小二乘直线拟合,得到拟合直线y=ax+b,其中,xi为第i个刻划编号,yi为第i个刻划中心,i=1,2,...,p,a为拟合直线的斜率,b为拟合直线的截距;则细分估计为Ph1=-(360.°/M)×(Pos/a),其中,Pos=a×L+b,L为检测线xc左边最靠近检测线的第1个刻划脉冲编号;
(208)计算该CCD读头的角度输出Degree=Ph0+Ph1;
(3)将2个CCD读头的角度输出进行融合,得到电子经纬仪的一次测量输出。
2.根据权利要求1所述单圈绝对编码式电子经纬仪的测角信号处理方法,其特征在于:在步骤(203)中,常数k∈(0,1)。
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