[发明专利]卷积运算方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710983549.0 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN107862316B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 殷桂华;张长春;许权南;易斌 申请(专利权)人: 珠海格力电器股份有限公司
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06N3/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵囡囡
地址: 519070 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 卷积 运算 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种卷积运算方法,其特征在于,包括:

获取待处理图像;

将所述待处理图像转化为至少一个子图像;

根据所述至少一个子图像的尺寸,提取所述至少一个子图像的图像信息;

对所述至少一个子图像的图像信息进行卷积运算,以输出至少一个卷积结果;

将各个卷积结果加总处理,以输出加总结果;

其中,所述根据所述至少一个子图像的尺寸,提取所述至少一个子图像的图像信息,包括:

判断所述至少一个子图像的尺寸是否小于预设阈值;

若所述至少一个子图像的尺寸小于所述预设阈值,提取所述至少一个子图像的轮廓信息;

若所述至少一个子图像的尺寸大于等于所述预设阈值,提取所述至少一个子图像的细节信息;

其中,所述图像信息包括所述轮廓信息和所述细节信息;

其中,提取所述至少一个子图像的细节信息包括:

采用同类二维采样提取所述至少一个子图像的图像信息;

从所述图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息,以得到所述细节信息;

其中,从所述图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息包括:

通过滤波器从图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息,并且对剔除轮廓信息的所述至少一个子图像的各个像素点的位置与所述细节信息进行记录、映射。

2.一种卷积运算装置,其特征在于,包括:

获取单元,用于获取待处理图像;

转化单元,用于将所述待处理图像转化为至少一个子图像;

提取单元,用于根据所述至少一个子图像的尺寸,提取所述至少一个子图像的图像信息;

运算单元,用于对所述至少一个子图像的图像信息进行卷积运算,以输出至少一个卷积结果;将各个卷积结果加总处理,以输出加总结果;

其中,所述提取单元用于执行以下步骤根据所述至少一个子图像的尺寸,提取所述至少一个子图像的图像信息:

判断所述至少一个子图像的尺寸是否小于预设阈值;

若所述至少一个子图像的尺寸小于所述预设阈值,提取所述至少一个子图像的轮廓信息;

若所述至少一个子图像的尺寸大于等于所述预设阈值,提取所述至少一个子图像的细节信息;

其中,所述图像信息包括所述轮廓信息和所述细节信息;

其中,提取所述至少一个子图像的细节信息包括:

采用同类二维采样提取所述至少一个子图像的图像信息;

从所述图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息,以得到所述细节信息;

其中,从所述图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息包括:

通过滤波器从图像信息中剔除所述至少一个子图像的轮廓信息,并且对剔除轮廓信息的所述至少一个子图像的各个像素点的位置与所述细节信息进行记录、映射。

3.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质包括存储的程序,其中,所述程序执行权利要求1所述的卷积运算方法。

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