[发明专利]基于多层膜与光子晶体的偏振光谱伪装结构

权利要求书

1.基于多层膜与光子晶体的偏振光谱伪装结构，其特征是，该结构分为两部分，上部分从上到下依次由TiO₂层(1)、SiO₂层(2)和TiO₂层(3)三层膜构成，膜层厚度分别为d1、d2和d3，该结构在特定角度下实现偏振分光特性，并利用布儒斯特角θb将S波、P波分离，达到S波高反，P波高透射；

下部分是m×n的多孔阵列光子晶体阵列结构(4)，可以实现窄带上的P波高反；

所述m×n的多孔阵列光子晶体阵列结构(4)由SiO2制成；

S波、P波分离，即S波反射率大于0.8，P波反射率小于0.2时，膜层厚度d1、d2和d3的取值范围：

d1(nm)	57～74
d2(nm)	1～15
d3(nm)	57～74

。

2.根据权利要求1所述的基于多层膜与光子晶体的偏振光谱伪装结构，其特征在于，m×n的多孔阵列光子晶体阵列结构(4)中光子晶体取不同直径D时，横向列距l₁、纵向列距l₂、中心波长λ0及带宽d的值：

1(nm)]]>	2(nm)]]>	D(nm)	0(nm)]]>	d(nm)
416.67	420	400	410	10
437.50	440	420	425	10
458.33	460	440	445	10
479.17	480	460	460	10
500.00	500	480	480	10
520.83	520	500	500	10
541.67	540	520	520	10
562.50	560	540	540	10
583.33	580	560	560	10
604.17	600	580	575	10
625.00	620	600	595	10

。