[发明专利]一种六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型在审
申请号: | 201710984351.4 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107831119A | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 邱妮;伏进;姚强;曾福平;印华;唐炬;苗玉龙;吴彬;李龙;籍勇亮;胡晓锐;宫林;张施令 | 申请(专利权)人: | 国网重庆市电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司;国家电网公司;武汉大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 | 代理人: | 胡柯 |
地址: | 401123 重庆市渝北*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 六氟化硫 分解 微量 气体 检测 信号 温度 校正 模型 | ||
1.一种六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,所述模型建立步骤如下:
S1:建立微量气体体积分数与气体光声信号之间的关系式;
S2:建立温度与气体光声信号的关系式;
S3:求解步骤S1和步骤S2的关系式,得到计算结果;
S4:根据步骤S3的计算结果建立温度校正模型;
S5:求解温度校正模型,得到校正结果。
2.如权利要求1所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,步骤S1中气体体积分数与气体光声信号值的关系式如下:
C=g(Vp)=a1Vp+a0;
其中,a1和a0是由实验数据拟合得到的常数;C为气体体积分数;Vp为光声信号值。
3.如权利要求2所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,所述步骤S2中温度与气体光声信号的关系式为:
kc=f(C)=b1C+b0;
其中,b1和b0可由实验数据的拟合结果确定;kc为温度与光声信号的变化斜率。
4.如权利要求3所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,所述步骤S2中温度与气体光声信号的关系式还包括有:
S21:因环境温度的变化导致微量气体光声信号产生变化量,产生变化量的数学模型如下:
ΔVpt=Vpt-Vp=kc(t-to)=f(C)(t-to);
其中,t0为参考温度;t为实际检测时的环境温度;Vpt为实际检测的光声信号;Vp为参考温度下的光声信号。
5.如权利要求4所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,步骤S3的计算步骤如下:
S31:采用迭代法算法计算步骤S21;
S32:设置迭代初值V1为光声信号实测值Vpt,V2为校正后光声信号值Vp;
S33:将步骤S32中的迭代初值V1和V2带入步骤S21中进行计算,得到:
a=V2-V1;
当前后两次校正结果的差值在迭代精度范围时,可近似得到V1=V2,此时的校正结果近似等于参考温度下的标准信号值;其中,a为迭代中间值;
S34:不断的循环校正计算,即判断a的绝对值是否小于迭代精度e,如果是,则输出V2,可以得到C=g(V2);反之,继续进行循环校正。
6.如权利要求1所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,所述温度校正模型还包括有对所述气体光声信号的检测,所述气体光声信号的检测步骤如下:
S61:调制器对光源进行调制;
S62:光源激发待测气体从基态跃迁至激发态;
S63:处于激发态的气体分子通过无辐射的驰豫现象,即分子间的碰撞,将光能转换为分子的平均动能;
S64:当气体体积一定时,温度上升,气体压强增大;
S65:以一定的频率对入射光强度进行调制,气体压强便会出现与调制频率一致的周期性变化,当调制频率处于声频范围内,就会产生声信号;
S66:通过高灵敏度的微音器接收声信号,并转换为与声压成正比的电信号输出,供外部分析处理。
7.如权利要求6所述的六氟化硫分解的微量气体光声检测信号温度校正模型,其特征在于,假设处于激发态的气体分子数密度为N',则处于基态的气体分子数密度可表示为N-N';
步骤S62中待测气体从基态跃迁至激发态的分子数密度可以用下式来计算:
其中σ是气体分子的吸收截面,φ为光子通量,激发态分子总寿命τ与无辐射跃迁寿命τn和辐射跃迁寿命τr存在以下关系:
τ-1=τn-1+τr-1;
在大气条件下,τn的数量级处于10-6~10-9s之间,τr的数量级处于10-1~10-3s之间,故激发态分子的辐射跃迁时间要远远大于无辐射跃迁时间,气体分子吸收的光能主要以无辐射跃迁的形式来释放分子热能,并且τ可近视等于τn;由于激发速率σφ通常很小,因此N'远小于N,这样激发态的受激发射可以忽略,上式可简化为:
若入射光以角频率ω进行调制,由于在光声信号的产生中,只有与ω有关的时间因子起作用,因此,上式的解为:
式中,表示激发态粒子数密度N'与光通量φ之间的相位差;气体分子中处于激发态的分子因无辐射弛豫产生热,可用下式表示:
其中,E′是激发态无辐射弛豫过程中释放的热量,如果全部激发态能量都通过无辐射弛豫过程回到基态,则在非饱和吸收的条件下,考虑到τ近似与τn相等,这时用I0表示入射光光强,H0可表示为:
对于较低的调制频率ω<<106,即ωτ<<1,这时H=H0eiωt,此时H0又可简化为:
H0=NσI0=αI0;
式中α=Nσ是气体分子的吸收系数,上式是光声光谱学中研究一般条件下热产生的基本公式,它适用于光调制频率为KHz左右,即ωτ<<1;在特定入射光波长下,如吸收截面σ已知,则可通过H0的强弱来确定吸收试样的浓度N。
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