[发明专利]包络检测电路有效
申请号: | 201710984464.4 | 申请日: | 2017-10-20 |
公开(公告)号: | CN107968637B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 姊川修 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H03H5/00 | 分类号: | H03H5/00;H03F1/02;H02M3/07 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 李铭;崔利梅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包络 检测 电路 | ||
本发明涉及一种用于生成输入RF信号的包络信号的包络检测电路。所述包络检测电路包括输入端、输出端、晶体管和积分电路。晶体管以B类模式或C类模式操作,其输入端接收输入RF信号,晶体管放大所述输入RF信号,并且输出放大后的信号。积分电路设置在晶体管和输出端之间,包括在偏置电源和地之间的电阻器和电容器的串联电路。晶体管经由电阻器接收偏置。电容器保持放大后的信号的底部电平。
技术领域
本发明涉及一种可以生成输入射频(RF)信号的包络信号的包络检测电路。
背景技术
已知包络检测电路使用诸如场效应晶体管(FET)的有源元件,其中FET可作为二极管操作。日本专利申请公开NO.JP-2000-068747A公开了一种这样的包络检测电路。然而,当作为三端装置的晶体管被当作两端装置的二极管来使用时,这里使用的晶体管没有显示出放大输入信号的功能,这导致了输出功率受限。
发明内容
本发明的一方面涉及一种包络检测电路,该包络检测电路包括输入端、输出端、晶体管以及积分电路。输入端接收输入射频(RF)信号。输出端输出所述输入RF信号的包络信号。晶体管的控制端从输入端接收输入RF信号,晶体管放大接收的输入RF信号,并且在其各电流端中的一个电流端输出放大信号。各电流端中的该一个电流端与输出端相连。积分电路设置在晶体管和输出端之间。积分电路包括在偏置电源和地之间串联连接的电阻器和电容器。晶体管的各电流端中的所述一个电流端经由电阻器从偏置电源接收偏置。本发明的包络检测电路的特征在于晶体管以B类模式或C类模式操作。
本发明的另一种包络检测电路包括输入端、输出端、平衡-不平衡变换器(balun)和两个包络检测单元。输入端接收输入RF信号。输出端输出所述输入RF信号的包络信号。平衡-不平衡变换器从输入端接收输入RF信号并且生成彼此互补的两个输入信号。两个包络检测单元各自接收来自平衡-不平衡变换器的输入信号并且在所述输出端耦合生成的各包络信号。包络检测单元各自包括晶体管和积分电路。晶体管接收来自平衡-不平衡变换器的输入信号,放大该输入信号,并且在其各电流端中的与输出端相连的一个电流端输出如此放大后的信号。该晶体管以B类模式或C类模式操作。积分电路,其被设置在晶体管与输出端之间,包括在偏置电源与地之间串联连接的电阻器和电容器。晶体管的各电流端中的所述一个电流端经由电阻器被偏置电源偏置。
附图说明
参照附图结合本发明的优选实施例的以下详细说明,可以更好地理解本发明的前述内容和其他目的、方面和优点,在附图中:
图1示出了根据本发明第一实施例的包络检测电路的电路图;
图2比较了具有积分电路的包络检测电路与不具有积分电路的包络检测电路的信号形态;
图3A示出了晶体管以A类模式操作时包络检测电路的信号形态,图3B示出了晶体管以AB类模式操作时包络检测电路的信号形态;
图4示出了根据本发明第二实施例的另一包络检测电路的电路图;
图5示出了根据图4所示的包络检测电路修改的又一包络检测电路的电路图;
图6A比较了图4所示的电路所输出的包络信号的信号形态与图5所示的电路所输出的包络信号的信号形态;图6B放大了图6A所示的包络信号;
图7示出了根据本发明第三实施例的包络检测电路的电路图。
具体实施方式
下面,将参照附图描述根据本发明的实施例。在附图描述中,彼此相同或相似的数字或符号指代彼此相同或相似的元件而不再重复解释。
第一实施例
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