[发明专利]一种计算机可读存储介质和应用该介质的测试机

说明书

本发明涉及降噪耳机检测技术领域，特别涉及一种计算机可读存储介质和应用该介质的测试机，该介质内存有计算机程序，该计算机程序可被测试机的处理器执行。通过对预设的多个频点的降噪量dSPL进行插值处理得到基于频点‑降噪量dSPL的数组，由该数组可以生成完全覆盖这些频点的降噪曲线，从降噪曲线就可以简单地判断出该主动降噪耳机的降噪性能。不需要对主动降噪耳机的全部参考音频信号和全部输出音频信号的信号差异(如降噪量dSPL)进行对比处理，可以大大减少数据的处理量，这样可以缩短整体的测试时间，而且通过设定待测试的多个频点，可以灵活选择声音频段的测试范围，从而保证测试的测试精度。

技术领域

本发明涉及降噪耳机检测技术领域，特别涉及一种计算机可读存储介质和应用该介质的测试机，该介质内存有计算机程序，该计算机程序可被测试机的处理器执行。

背景技术

主动降噪耳机是通过降噪系统产生与外界噪音反相的声波来中和噪音，从而达到降噪的效果。随着降噪技术的发展和改进，目前很多厂商都推出了自家的主动降噪系列耳机，可以消除百分之七八十甚至更多的噪音。对于经常乘坐飞机、火车、地铁、公交等噪音比较大的交通的工具的人来说，主动降噪不仅能让用户能够真正安静地聆听音乐，而且对保护听力也起着重要作用。为了测试主动降噪耳机的降噪性能，需要输入一段参考音频信号给耳机，然后采集降噪耳机的输出音频信号，对比这两者的音频信号差异(如降噪量dSPL)从而分析得到该主动降噪耳机的降噪性能。但是，人耳可分辨的声音频率在20Hz～20000Hz之间，如果要保证降噪性能测试能够覆盖大多数声音频率，测试用的参考音频信号所含的数据量就会很大，拖慢了测试时间，在进行批量出厂测试的情况下，增加了企业的测试成本；而在人耳可分辨的声音频率中选取一些使用较为频繁的声音频段进行测试，就不可避免地放弃了部分数据，降低了测试精度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种精确度更高且测试时间更短的主动降噪耳机的降噪性能的测试方法，以及应用该方法进行主动降噪耳机的降噪性能测试的测试机。

本发明的目的通过以下技术方案实现：

提供一种计算机可读存储介质，其存储有用于测试主动降噪耳机的降噪性能的计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现以下步骤：

频点降噪量获取步骤，其获取主动降噪耳机在预设的多个频点的降噪量dSPL；

降噪曲线生成步骤，其在相邻两个频点之间取频点进行降噪量dSPL插值，从而生成平滑的降噪曲线。

其中，所述预设的多个频点是指在20Hz～20000Hz之间均匀设置的N个频点。

其中，插值处理具体通过三次样条插值解算方法实现。

其中，定义这些频点中最小的降噪量dSPL为降噪峰值Pk、最大的降噪量dSPL为增噪峰值Ppk；还包括降噪性能判断步骤：若降噪曲线上的降噪峰值Pk和/或增噪峰值Ppk的大小超出预设的误差范围A，则其判断该主动降噪耳机的降噪性能为不合格。

其中，定义这些频点中最小的降噪量dSPL为降噪峰值Pk，定义降噪曲线上自所述降噪峰值Pk所对应的频点向频率大小所在坐标轴的两侧找到的第一个该与坐标轴交叉的点对应的频点分别为交叉点PL和交叉点PR；在交叉点PL到交叉点PR之间，该降噪曲线与频率大小所在坐标轴围成的图形的降噪面积Snc，所述降噪面积Snc的大小与主动降噪耳机的降噪性能相匹配。

其中，还包括降噪性能判断步骤：若降噪面积Snc的大小超出预设的误差范围C，则其判断该主动降噪耳机的降噪性能为不合格。

其中，该程序被处理器执行时同时对主动降噪耳机的左耳机和右耳机进行降噪性能测试。