[发明专利]漏电流控制方法、节省静态漏电装置及半导体存储器有效
申请号: | 201711004051.1 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN107564559B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
发明(设计)人: | 请求不公布姓名 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G11C7/10 | 分类号: | G11C7/10 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 由元;武晨燕 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 漏电 控制 方法 节省 静态 装置 半导体 存储器 | ||
1.一种漏电流控制方法,应用于附带下拉装置的焊盘检测电路,其特征在于,所述下拉装置连接于引脚焊盘和驱动电路之间,所述焊盘检测电路的第一信号输出端连接漏电流控制电路,所述漏电流控制方法包括:
所述漏电流控制电路获取所述焊盘检测电路的输出端信号,所述输出端信号用于表示引脚焊盘的状态检测是否完成;
根据所述焊盘检测电路的输出端信号,由所述漏电流控制电路生成用于控制所述下拉装置的作动的控制信号,所述下拉装置的作动选择包括导通和截止;
其中,当所述输出端信号表示所述引脚焊盘的状态检测完成时,生成的所述控制信号控制所述下拉装置截止;所述漏电流控制电路包括逻辑运算单元,所述焊盘检测电路的输出端信号与所述逻辑运算单元的上电复位信号和初始化信号的任一,经由所述逻辑运算单元进行逻辑运算后,获得的逻辑运算结果作为所述逻辑运算单元的控制信号输出给所述下拉装置。
2.根据权利要求1所述的漏电流控制方法,其特征在于,所述逻辑运算单元的第一信号输入端接入所述焊盘检测电路的第一信号输出端,所述逻辑运算单元的第二信号输入端接入所述逻辑运算单元的上电复位信号和初始化信号的任一,所述逻辑运算单元的第二信号输出端连接至所述下拉装置。
3.根据权利要求2所述的漏电流控制方法,其特征在于,所述逻辑运算单元为与非门电路。
4.根据权利要求2所述的漏电流控制方法,其特征在于,所述下拉装置包括金属氧化物半导体晶体管而具有:
栅极,接入所述漏电流控制电路的控制信号;
漏极,连接所述焊盘检测电路的所述引脚焊盘与用于提供所述第一信号输出端的驱动电路之间的连接线路;及,
源极,为接地连接。
5.一种节省静态漏电装置,其特征在于,包括:
焊盘检测电路,附带有下拉装置,所述下拉装置连接于引脚焊盘和驱动电路之间;
漏电流控制电路,连接所述焊盘检测电路的第一信号输出端,且所述漏电流控制电路的第二信号输出端连接所述下拉装置;
其中,所述漏电流控制电路从所述焊盘检测电路获得用于表示所述引脚焊盘的状态检测是否完成的输出端信号,并根据所述输出端信号由所述漏电流控制电路生成控制信号输出给所述下拉装置,所述控制信号用于控制所述下拉装置作动,所述下拉装置的作动选择包括导通和截止;
其中,当所述输出端信号表示所述引脚焊盘的状态检测完成时,生成的所述控制信号控制所述下拉装置截止;所述漏电流控制电路包括逻辑运算单元,所述焊盘检测电路的输出端信号与所述逻辑运算单元的上电复位信号和初始化信号的任一,经由所述逻辑运算单元进行逻辑运算后,获得的逻辑运算结果作为所述逻辑运算单元的控制信号输出给所述下拉装置。
6.根据权利要求5所述的节省静态漏电装置,其特征在于,所述逻辑运算单元的第一信号输入端接入所述焊盘检测电路的第一信号输出端,所述逻辑运算单元的第二信号输入端接入所述逻辑运算单元的上电复位信号或初始化信号,所述逻辑运算单元的第二信号输出端连接至所述下拉装置。
7.根据权利要求6所述的节省静态漏电装置,其特征在于,所述逻辑运算单元为与非门电路。
8.根据权利要求5、6或7所述的节省静态漏电装置,其特征在于,所述下拉装置包括金属氧化物半导体晶体管而具有:
栅极,接入所述漏电流控制电路的控制信号;
漏极,连接所述焊盘检测电路的所述引脚焊盘与用于提供所述第一信号输出端的驱动电路之间的连接线路;
源极,为接地连接。
9.一种半导体存储器,其特征在于,包括权利要求5所述的节省静态漏电装置。
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