[发明专利]变压器低电压短路阻抗试验中排除短路电阻影响的方法

说明书

技术领域

本发明属于电力系统中变电检修电气试验领域，具体涉及一种变压器低电压短路阻抗试验中排除短路电阻影响的方法。

背景技术

变压器低电压短路阻抗试验接线如图1（以单相变压器为例），

将变压器低压侧ab短路，由高压压测AB输入低电压（一般220V左右），从高压侧测量电流，从而计算该变压器的低电压短路阻抗值。其阻抗值：

Z=U/I=（X²+R²）^1/2

现有的低电压短路阻抗测试仪可以直接测量出电抗X与电阻R的值。其中X决定无功损耗，R决定有功损耗。该试验中的有功损耗主要有变压器在该电压下的空载损耗与低压侧的电阻r所引起的电阻损耗。

理想情况下，低压侧ab短路电阻为0，但实际操作时，常常由于短路不良，造成R偏大，导致试验结果偏差较大。

目前，实践中常用裸铜线缠绕的方式短路低压侧。对于电压等级较高的变压器，由于其本身短路阻抗值较大，故采用裸铜线缠绕对试验结果影响较小。但对于电压等级较地的变压器，由于其本身短路阻抗不大，故采用裸铜线直接短接的方式，其附加的电阻值总测量阻抗中占比较大，测量数据易超标，测量效果不佳。

现有技术存在缺点及不足：

对于电压等级较低（容量较小）的变压器，由于其本身短路阻抗不大，故采用裸铜线直接短接的方式，其附加的电阻值总测量阻抗中占比较大，测量数据易超标，测量效果不佳。

发明内容

本发明的目的在于提供一种变压器低电压短路阻抗试验中排除短路电阻影响的方法，可排除低电压短路阻抗试验中排除短路电阻影响。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：一种变压器低电压短路阻抗试验中排除短路电阻影响的方法，提供低电压短路阻抗测试仪，包括用于连接变压器低压侧的两端的第一开关，以及用于连接变压器低压侧的两端的第二开关，第一开关包括悬空、电流输出、电流测量档位，第二开关包括悬空、电压测量档位，所述低电压短路阻抗测试仪还与变压器高压侧连接；该方法实现如下：

S1、将第一开关、第二开关均切至悬空，在变压器高压侧输入电压U，并测量电流I₀，得到电压U下的空载有功损耗P₀；

S2、将第一开关切至电流输出档位，第二开关切至电压测量档位，使得变压器高压侧悬空，测量变压器高压侧绕组直流电阻r；

S3、将第一开关切至电流测量档位，第二开关切至悬空档位，此时第一开关相当于短路，在变压器高压侧输入电压U，并测量输入测量电流I；此时有第一开关处测量电流为I₁；根据短路阻抗公式：

Z=U/I=（X²+R²）^1/2

其中，R受三部分影响：空载损耗的等效电阻r₀、电压测直流电阻r、短路附加电阻r_x

现要排除r_x的影响；假设排除r_x影响后的电阻为R’，则以下等式成立

U²/ R’= I₁²r+P₀

即R’= U²/（I₁²r+P₀）

将R’替换R即可排除短路附加电阻的影响；即Z=U/I=（X²+R’²）^1/2。

相较于现有技术，本发明具有以下有益效果：

1、现有的试验方法不能排除附加电阻的影响，本方法通过测量与计算，能够完全排除附加电阻的影响，提高试验的准确性；

2、本方法只需将测试线接入仪器即可实现准确测量，减少了缠绕铜线的工作量，提高工作效率。

附图说明

图1为变压器低电压短路阻抗试验接线图。

图2为本发明方法接线图。

图3为图2的局部P放大图。

具体实施方式

下面结合附图2-3，对本发明的技术方案进行具体说明。