[发明专利]输入检测保护电路及HID灯用交流电子镇流器在审
申请号: | 201711014976.4 | 申请日: | 2017-10-25 |
公开(公告)号: | CN107635343A | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 邱明;金宇星;邓冠星 | 申请(专利权)人: | 苏州纽克斯电源技术股份有限公司 |
主分类号: | H05B41/14 | 分类号: | H05B41/14 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司32293 | 代理人: | 韩凤 |
地址: | 215143 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 输入 检测 保护 电路 hid 交流 电子镇流器 | ||
技术领域
本发明涉及电子镇流器技术领域,尤其涉及一种输入检测保护电路及HID灯用交流电子镇流器。
背景技术
HID灯电子镇流器技术发展了多年,其应用技术也越来越成熟,特别是近来在农业上的应用和路灯节能改造上的应用越来越多,市场的多样化需求差异形成了庞大的产品家族,其产品种类繁多,常见功率范围在70-1000W,因为各个国家的电网配电不一样,常用的电压有120V,208V,220V,230,240V,277V,347V,380V,400V,480V等,以上电压规格不难看出电子镇流器配电环境复杂,安装时必须关注产品额定电压范围和电网的环境。
进一步了解使用环境,分为家庭单一电压使用,中等规模发动机供电,大规模工业应用时电网配电,因此电网电压环境复杂,在应用时监测输入浪涌电压达到几千伏,电网波动和不稳定达到30%以上,远远超过产品的设计承受电压,如此恶劣的电网环境导致故障的主要原因,根据失效分析造成大量的损坏原因有如下几种:
一类是3相4线配电时误用两根火线,实际的输入电压为标称值的1.7倍。例如标称额定电压230V的产品在接错线时电压高达400VAC,大大的超过了产品的承受电压。第二类为电网不稳定超过内部器件的承受耐压,造成电解和MOS管损坏。第三类是零线掉相导致三相不平衡,其中有一相电压超过输入的额定值,导致内部电解电容和MOS等损坏。第四类是雷击和开关闭合瞬间的浪涌电压,第五类是输入电容充电时的大电流快速变化,在电流由大减少时造成的感应高电压。
在长期的使用跟踪后发现,输入的电压异常造成的损坏占所有故障率的60%以上,在家庭环境下使用电压单一,失效率明显的低于工业的应用。使用发动机的环境故障率明显高于使用电网的环境。在开关瞬间损坏的概率大于正常工作时,雷雨天气的失效率高于晴朗天气。
因此,针对上述问题,本发明提出进一步的解决方案。
发明内容
本发明旨在提供一种输入检测保护电路及HID灯用交流电子镇流器,以克服现有技术中存在的不足。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:
一种输入检测保护电路,其用于HID灯用交流电子镇流器的输入检测,其包括:电源输入回路、输入电压采集回路、继电器吸合回路、PFC电路、MCU芯片;
所述电源输入回路对输入的浪涌电路进行第一次限压,并对第一次限压后的残压进行第二次限压,所述输入电压采集回路将输入电压反馈至所述MCU芯片,所述继电器吸合回路与所述电源输入回路中的继电器连接,所述MCU芯片根据所述输入电压采集回路输入的电压值,控制所述PFC电路的开启和关闭,并通过所述继电器吸合回路控制所述继电器的吸合和断开。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述电源输入回路包括:第一压敏电阻、第二压敏电阻、热敏电阻以及继电器,输入的浪涌电压经所述第一压敏电阻限压后,再经所述第二压敏电阻和热敏电阻限压。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述电源输入回路还包括第三压敏电阻,所述第三压敏电阻并联于所述热敏电阻的两端。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述输入电压采集回路包括:第一二极管、第二二极管、第一电容、第二电容、第一电阻和第二电阻,所述第一二极管和第二二极管的一端连接至所述电源输入回路,另一端经所述第一电容、第二电容、第一电阻和第二电阻连接至所述MCU芯片。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,当输入电压位于安全范围内时,所述MCU芯片通过所述继电器吸合回路控制所述继电器的吸合,当输入电压超出安全范围内时,所述继电器断开。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述输入电压采集回路包括:第三电阻、第四电阻、第三电容,所述第三电容的一端连接至所述PFC电路,另一端经所述第三电阻和第三电容连接至所述MCU芯片。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,当输入电压位于安全范围内时,所述MCU芯片控制所述PFC电路开启,当输入电压超出安全范围内时,所述MCU芯片控制所述PFC电路关闭。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述继电器吸合回路包括三极管、第五电阻、第六电阻、第四电容,所述三极管的集电极与所述继电器连接,所述三极管的集电极和发射极经所述第五电阻、第六电阻、第四电容与所述MCU芯片电连接。
作为本发明的输入检测保护电路的改进,所述输入检测保护电路还包括电源模块,所述电源模块为所述继电器和MCU芯片供电。
为解决上述技术问题,本发明的另一技术方案是:
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