[发明专利]一种凸透镜焦距测量装置及其方法在审
申请号: | 201711016209.7 | 申请日: | 2017-10-25 |
公开(公告)号: | CN107782535A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 翁存程;冯尚源 | 申请(专利权)人: | 福建师范大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡学俊,冯建斌 |
地址: | 350117 福建省福州市闽侯*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 凸透镜 焦距 测量 装置 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种凸透镜焦距测量装置及其方法。
背景技术
凸透镜是一种常用的光学元件,被广泛用于光学系统,焦距是透镜一个最重要的参数。最常用的测焦距方法大都是根据物像关系设计的,如物距像距法,由于物距和像距均不容易准确测量得到,计算得到的透镜焦距存在很大的误差。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的是提供一种使用方便,测量快速准确的凸透镜焦距测量装置及其方法。
本发明采用以下方案实现:一种凸透镜焦距测量装置,包括位于下侧的轨道,轨道上沿其长度方向自前向后依次设置有钠灯、挡板、凸透镜、衍射光栅、待测凸透镜以及与计算机相连接的CCD;所述挡板位于凸透镜的焦平面处,所述挡板中部开设有矩形通光孔,矩形通光孔与衍射光栅上的刻线相平行。
进一步的,钠灯、矩形孔、凸透镜、光栅固定在轨道上;待测凸透镜可拆卸安装于位于其下方的底座上,所述底座安装于轨道上,CCD可沿轨道前后移动。
进一步的,钠灯的黄光中心波长为589.3nm。
本发明另一技术方案:一种凸透镜焦距测量方法,采用如上所述的凸透镜焦距测量装置,钠灯发出的黄光由矩形通光孔入射,通过凸透镜后形成一束平行光,平行光垂直入射衍射光栅,经衍射光栅发生一级衍射光满足以下关系式一:,关系式一中d为光栅常数,a为一级衍射光的衍射角,λ为光波的波长;一级衍射光通过待测凸透镜后会聚在CCD上,形成衍射条纹,沿着轨道移动CCD,记录CCD上正负一级衍射条纹的粗细及衍射条纹的间距,待测凸透镜的焦距f满足以下关系式二: ,关系式二中l为衍射条纹最细时正负一级衍射条纹的间距,d为光栅常数,λ为光波的波长;根据已知光栅常数d和光波的波长λ,即可获得待测透镜的焦距。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:本发明凸透镜焦距测量装置可快速准确的测出凸透镜的焦距,操作简单,使用方便,而且结构稳定可靠,误差小。
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下将通过具体实施例和相关附图,对本发明作进一步详细说明。
附图说明
图1是本发明实施例构造示意图;
图中标号说明:100-钠灯、200-挡板、210-矩形通光孔、300-凸透镜、400-衍射光栅、500-待测凸透镜、600-CCD、700-计算机。
具体实施方式
如图1所示,一种凸透镜焦距测量装置,包括位于下侧的轨道(图中未示出),轨道上沿其长度方向自前向后依次设置有钠灯100、挡板200、凸透镜300、衍射光栅400、待测凸透镜500以及与计算机700相连接的CCD600;所述挡板位于凸透镜的焦平面处,所述挡板中部开设有矩形通光孔210,矩形通光孔210与衍射光栅400上的刻线相平行;钠灯、矩形孔、凸透镜、衍射光栅、待测凸透镜、CCD安装等高共轴,待测凸透镜500的光轴平行于导轨;CCD的感光面垂直于导轨;该测量装置利用与CCD连接的计算机直接测量、计算给出凸透镜的焦距,可快速准确的测出凸透镜的焦距,使用方便,而且结构简单,工作稳定可靠。
在本实施例中,钠灯、矩形孔、凸透镜、光栅固定在轨道上;待测凸透镜可拆卸安装于位于其下方的底座(图中未示出)上,所述底座安装于轨道上,CCD可沿轨道前后移动。
在本实施例中,钠灯的黄光中心波长为589.3nm。
一种凸透镜焦距测量方法,采用如上所述的凸透镜焦距测量装置,钠灯发出的黄光由矩形通光孔入射,通过凸透镜后形成一束平行光,平行光垂直入射衍射光栅,经衍射光栅发生一级衍射光满足以下关系式一:,关系式一中d为光栅常数,a为一级衍射光的衍射角,λ为光波的波长;一级衍射光通过待测凸透镜后会聚在CCD上,形成衍射条纹,沿着轨道移动CCD,记录CCD上正负一级衍射条纹的粗细及衍射条纹的间距,待测凸透镜的焦距f满足以下关系式二: ,关系式二中l为衍射条纹最细时正负一级衍射条纹的间距,d为光栅常数,λ为光波的波长;根据已知光栅常数d和光波的波长λ,即可获得待测透镜的焦距。
其中关系式二通过以下关系式三换算得到:。
上列较佳实施例,对本发明的目的、技术方案和优点进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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