[发明专利]一种导电薄膜的制备方法在审
申请号: | 201711020586.8 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107732013A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 王红丽 | 申请(专利权)人: | 成都天航智虹知识产权运营管理有限公司 |
主分类号: | H01L51/00 | 分类号: | H01L51/00;H01B1/04 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙)51211 | 代理人: | 史姣姣 |
地址: | 610094 四川省成都市自由贸易试验区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 导电 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:
A.沉积镍层
在玻璃基底上沉积1-3个镍原子厚的镍薄膜层;
B、制备氧化石墨烯薄膜层
在镍薄膜层上涂布氧化石墨烯水溶液,在60~90℃条件下烘干,形成厚度为20~30μm的氧化石墨烯薄膜层;
C.沉积石墨烯层
采用CVD法在氧化石墨烯层上沉积石墨烯薄膜层,所述石墨烯薄膜层的厚度为80~100μm;
C.清洗、干燥
将步骤C得到的半成品进行降温处理,待温度降至室温后,将氧化石墨烯薄膜层进行清洗,去除镍薄膜层,然后进行干燥即可。
2.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤A中,所述沉积镍层的方法为磁控溅射法,本底真空度:5×10-5~1×10-4Pa,溅射压力1~3Pa,衬底温度30~100℃。
3.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤中C中,所述CVD法沉积石墨烯薄膜层过程中,碳源为甲烷,气体为H2和He的混合气体;沉积的温度为550~700℃,沉积的压力为1×10-4~5×10-4Pa。
4.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤D中,所述清洗是指用弱酸溶液对降温后的半成品浸泡2~3h。
5.如权利要求1~4任一项所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤D中,所述干燥的条件为110~130℃下干燥30~45min。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
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