[发明专利]一种导电薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201711020586.8 申请日: 2017-10-27
公开(公告)号: CN107732013A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 王红丽 申请(专利权)人: 成都天航智虹知识产权运营管理有限公司
主分类号: H01L51/00 分类号: H01L51/00;H01B1/04
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙)51211 代理人: 史姣姣
地址: 610094 四川省成都市自由贸易试验区*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 导电 薄膜 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:

A.沉积镍层

在玻璃基底上沉积1-3个镍原子厚的镍薄膜层;

B、制备氧化石墨烯薄膜层

在镍薄膜层上涂布氧化石墨烯水溶液,在60~90℃条件下烘干,形成厚度为20~30μm的氧化石墨烯薄膜层;

C.沉积石墨烯层

采用CVD法在氧化石墨烯层上沉积石墨烯薄膜层,所述石墨烯薄膜层的厚度为80~100μm;

C.清洗、干燥

将步骤C得到的半成品进行降温处理,待温度降至室温后,将氧化石墨烯薄膜层进行清洗,去除镍薄膜层,然后进行干燥即可。

2.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤A中,所述沉积镍层的方法为磁控溅射法,本底真空度:5×10-5~1×10-4Pa,溅射压力1~3Pa,衬底温度30~100℃。

3.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤中C中,所述CVD法沉积石墨烯薄膜层过程中,碳源为甲烷,气体为H2和He的混合气体;沉积的温度为550~700℃,沉积的压力为1×10-4~5×10-4Pa。

4.如权利要求1所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤D中,所述清洗是指用弱酸溶液对降温后的半成品浸泡2~3h。

5.如权利要求1~4任一项所述的一种导电薄膜的制备方法,其特征在于:步骤D中,所述干燥的条件为110~130℃下干燥30~45min。

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