[发明专利]一种线列TDI型红外探测器面阵成像模式的实现方法

说明书

本发明公开了一种线列TDI型红外探测器面阵成像模式的实现系统，所述实现系统通过Bypass测试模式实现面阵成像模式输出，其包括：上位机、预处理装置和线列TDI型红外探测器，上位机发送面阵工作命令至预处理装置，预处理装置接收上位机命令后开始设置线列TDI型红外探测器控制寄存器，不断切换其中Bypass测试模式相关位的内容使探测器输出确定的像元列成像信号，预处理装置接收转换探测器输出的模拟成像信号，并最终将排列好的数字化成像数据发送至上位机，由上位机完成图像显示与存储。本发明简单易行，结果直观，开发周期短，提高了预处理装置集成度，为线列TDI型红外探测器的实用化提供技术支持。

技术领域

本发明属于红外成像技术领域，涉及一种线列TDI型红外探测器面阵成像模式的实现方法。

背景技术

线列TDI型红外探测器是遥感测绘领域的重要光电载荷，其TDI线列推扫的工作模式可实现大幅宽成像数据的采集，多光谱成像系统往往集成多个线列TDI型红外探测器，实现多光谱成像数据采集，为后期谱段融合提供基础。在多谱段线列TDI型红外探测器集成系统中，为确保成像数据的几何精度，扫描方向必须与探测器像元线列排布方向严格垂直；为确保谱段数据可融合，各线列TDI型红外探测器之间必须保证线列的一致性。在面阵型探测器的装调中，通常采用一字靶标寻找目标与像元之间的位置关系以确定线列方位，但线列TDI器件的常规工作模式为TDI积分，所得到的成像数据为多个像元共同作用的结果，不能有效建立像元排布与成像数据之间的关系，给系统集成装调增加了难度，在多光谱线列TDI型红外探测器系统集成静态装调过程中，若能够将成像数据与像元位置排布相对应，将极大地提高集成装调效率。所以，提出一种方法，能够实现线列TDI型红外探测器的面阵成像模式，输出所有像元信息，建立成像数据与像元位置排布之间的关系，对多光谱线列TDI型红外探测器系统集成装调具有重要意义。

发明内容

(一)发明目的

本发明的目的是：提供一种线列TDI型红外探测器面阵成像模式的实现方法，使线列TDI型探测器在静态状态下工作于面阵成像模式，输出所有像元的成像数据，建立成像数据与像元位置排布之间的关系，拓展线列TDI型红外探测器的工作模式，为线列TDI型红外探测器的装调及其它应用提供技术支持。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供一种线列TDI型红外探测器面阵成像模式的实现系统，利用线列TDI型红外探测器的Bypass测试模式实现面阵成像模式输出，上位机发送面阵工作命令至预处理装置，预处理装置接收上位机命令后开始设置线列TDI型红外探测器控制寄存器，不断切换其中Bypass测试模式相关位的内容使探测器输出确定的像元列成像信号，预处理装置接收转换探测器输出的模拟成像信号，并最终将排列好的数字化成像数据发送至上位机，由上位机完成图像显示与存储。

所述线列TDI型红外探测器通常工作于TDI积分模式，以512×6元线列TDI型红外探测器为例，在TDI积分模式下，探测器输出结果为6个像元的累加值，如果系统在静止状态下对一目标成像，其结果将6个像元成像效果合并，无法分辨每个像元具体成像信息，无法确定目标成像的具体位置；Bypass测试模式是所述线列TDI型红外探测器生产厂家用于探测器性能测试而预留的测试接口，该模式下可旁路TDI过程，可实现探测器像元的单列寻址，即每次设置成功后探测器就会输出6个线列中某一线列的512个像元数据，所述Bypass测试模式的实现通过设置所述线列TDI型红外探测器控制寄存器的DIR、BYPAS2及BYPAS1位实现，所述线列TDI型红外探测器控制寄存器在TDI积分工作模式下通常仅开机设置一次。