[发明专利]一种软件缺陷统计处理方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种软件缺陷统计处理方法及装置，方法包括：获取软件研发过程中目标软件缺陷的目标属性信息，根据所述目标属性信息将所述目标软件缺陷划分至对应的数据集中；根据预设周期和预设报表格式对各数据集中的软件缺陷进行统计，得到缺陷统计结果；将所述缺陷统计结果发送至显示器进行展示。本发明实施例通过将软件缺陷的属性信息划分至数据集，按照预设周期和预设报表格式统计数据集中的软件缺陷并展示，可将软件研发中缺陷的数据分析、数据统计、计算和展现过程全部自动实现，无需人工参与，大幅节省人力投入，为软件缺陷的数据度量和项目总结提供数据支持。

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术领域，具体涉及一种软件缺陷统计处理方法及装置。

背景技术

目前软件研发中的各个阶段、各个角色会产生各种类型的缺陷(bug)，如浏览器兼容性、安全、业务功能bug等，产生阶段、人员及数量较多。

针对软件研发项目的开发、测试过程，现在缺少对于bug的明确分类指标，数据统计全部依赖手工，且通过人工查询方能获知，这就带来了bug数据价值不大、手工分析耗费大量人力、过程数据展现不直观等缺点，团队成员对于bug的产生根因、改进方向不甚明确，严重影响软件项目开发和测试进度。

发明内容

由于现有方法存在上述问题，本发明实施例提出一种软件缺陷统计处理方法及装置。

第一方面，本发明实施例提出一种软件缺陷统计处理方法，包括：

获取软件研发过程中目标软件缺陷的目标属性信息，根据所述目标属性信息将所述目标软件缺陷划分至对应的数据集中；

根据预设周期和预设报表格式对各数据集中的软件缺陷进行统计，得到缺陷统计结果；

将所述缺陷统计结果发送至显示器进行展示。

可选地，所述目标属性信息包括缺陷分类、缺陷来源、责任角色和责任人员。

可选地，所述缺陷分类包括功能类缺陷、安全类缺陷、性能类缺陷、数据类缺陷、兼容性缺陷和系统依赖缺陷。

可选地，所述缺陷来源包括需求评审缺陷、设计评审缺陷、测试评审缺陷、代码评审缺陷、用例展示ShowCase缺陷、功能测试缺陷、系统测试缺陷、灰度发布缺陷、自动化测试缺陷、线上检查缺陷、运营反馈缺陷、系统监控缺陷和大数据对比缺陷。

第二方面，本发明实施例还提出一种软件缺陷统计处理装置，包括：

信息获取模块，用于获取软件研发过程中目标软件缺陷的目标属性信息，根据所述目标属性信息将所述目标软件缺陷划分至对应的数据集中；

数据统计模块，用于根据预设周期和预设报表格式对各数据集中的软件缺陷进行统计，得到缺陷统计结果；

结果显示模块，用于将所述缺陷统计结果发送至显示器进行展示。

可选地，所述目标属性信息包括缺陷分类、缺陷来源、责任角色和责任人员。

可选地，所述缺陷分类包括功能类缺陷、安全类缺陷、性能类缺陷、数据类缺陷、兼容性缺陷和系统依赖缺陷。

可选地，所述缺陷来源包括需求评审缺陷、设计评审缺陷、测试评审缺陷、代码评审缺陷、用例ShowCase缺陷、功能测试缺陷、系统测试缺陷、灰度发布缺陷、自动化测试缺陷、线上检查缺陷、运营反馈缺陷、系统监控缺陷和大数据对比缺陷。

第三方面，本发明实施例还提出一种电子设备，包括：

至少一个处理器；以及

与所述处理器通信连接的至少一个存储器，其中：

所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行上述方法。