[发明专利]具有混合导电模式的横向功率器件及其制备方法有效
申请号: | 201711026475.8 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107808899B | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | 张金平;崔晓楠;刘竞秀;李泽宏;任敏;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L27/12;H01L21/84 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 敖欢;葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 混合 导电 模式 横向 功率 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种具有混合导电模式的横向功率器件,包括从下至上依次设置的P型衬底(1),埋氧化层(2)和N型漂移区(3);所述N型漂移区(3)内部一端设有P型基区(4),另一端设有N型缓冲区(8);所述P型基区(4)内部上方设有N型源区(5)和P型接触区(6),所述N型缓冲区(8)内部上方设有P型集电极区(9);所述P型接触区(6)和部分N型源区(5)上方具有发射极(10);所述P型集电极区(9)部分上表面具有集电极(12);所述P型基区(4)上方还设置有栅介质层(7),所述栅介质层(7)上方具有栅电极(11),所述栅介质层(7)和栅电极(11)组成的栅极结构的长度大于P型基区(4)表面的长度,栅极结构两端分别与N型源区(5)上表面和N型漂移区(3)上表面相接触;其特征在于:所述N型漂移区(3)表面具有N型条(13)和P型条(14),所述N型条(13)和P型条(14)在器件漂移区表面垂直于沟道长度方向相间排列,所述N型条(13)和P型条(14)下方漂移区中具有P型RESURF层(16);所述N型条(13)、P型条(14)和P型RESURF层(16)三者与N型缓冲区(8)之间具有介质槽结构(17);所述N型条(13)在靠近介质槽结构(17)一侧上表面具有电极(15),所述电极(15)与集电极(12)相连;所述N型条(13)和P型条(14)的浓度大于所述N型漂移区(3)的浓度;所述介质槽结构(17)的深度不小于N型条(13)、P型条(14)和P型集电极区(9)的深度;所述N型条(13)、P型条(14)二者与P型RESURF层(16)之间还具有N型层(18),所述N型层(18)的浓度大于所述N型漂移区(3)的浓度。
2.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:所述P型RESURF层(16)、N型条(13)和P型条(14)均不与P型基区(4)相接触,所述N型条(13)、P型条(14)的浓度不小于P型RESURF层(16)的浓度。
3.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:所述P型RESURF层(16)由浓度从左到右依次减小的第一子区域(161)、第二子区域(162)和第三子区域(163)组成。
4.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:所述N型漂移区(3)由浓度从左到右依次增加的第一掺杂区(31)和第二掺杂区(32)组成。
5.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:所述N型条(13)的宽度从左到右逐渐增加,P型条(14)的宽度从左到右逐渐减小;或者N型条(13)的浓度从左到右逐渐增加,P型条(14)的浓度从左到右逐渐减小。
6.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:器件的MOS结构是沟槽型结构。
7.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:器件的MOS结构是平面结构和沟槽型结构共同组成的双栅复合结构。
8.根据权利要求1所述的具有混合导电模式的横向功率器件,其特征在于:介质槽结构(17)直接与P型集电极区(9)相接触,N型缓冲区(8)仅在P型集电极区(9)下方,并且介质槽结构(17)的深度大于P型RESURF层(16)和N型缓冲区(8)的深度。
9.权利要求1至8任意一项所述具有混合导电模式的横向功率器件的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
第一步:选取绝缘体上硅材料,其中衬底厚度300~500微米,掺杂浓度为1014~1015个/cm3,位于衬底上的埋氧化层的厚度为0.5~3微米,SOI层厚度为5~20微米;
第二步:光刻,在硅片表面右侧区域通过离子注入N型杂质并退火制作N型缓冲区,形成的N型缓冲区的厚度为2~4微米;
第三步:硅片表面热氧化并淀积栅电极材料,光刻,刻蚀部分栅电极材料和栅氧化层形成栅电极;
第四步:光刻,在硅片表面漂移区左侧通过离子注入P型杂质并退火制作P型基区,形成的P型基区的厚度为2~3微米;
第五步:光刻,在硅片表面漂移区中间通过高能离子注入P型杂质形成P型RESURF层;
第六步:光刻,在硅片表面漂移区中间通过离子注入N型杂质并退火制作N条区,形成的N条区的宽度为0.5~1微米;
第七步:光刻,在硅片表面漂移区中间通过离子注入P型杂质并退火制作P条区,形成的P条区的宽度为0.5~1微米;
第八步:光刻,刻蚀并填充介质形成介质槽,形成的介质槽的深度不小于P型集电区的深度;
第九步:光刻,分别在硅片表面左侧区域通过离子注入N型杂质和P型杂质并退火制作N型源区和P型接触区,形成的N型源区和P型接触区的厚度为0.2~0.3微米;
第十步:光刻,在硅片表面右侧区域通过离子注入P型杂质并退火制作P型集电区,形成的P型集电区的厚度为0.3~0.5微米;
第十一步:淀积并光刻、刻蚀介质层形成介质层;
第十二步:淀积并光刻、刻蚀金属在器件表面形成金属发射极、金属集电极;即制备得到具有混合导电模式的横向功率器件。
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