[发明专利]一种基于光纤电流互感器独立双采样的采样异常检测方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及电流互感器异常检测技术领域，更具体地，涉及一种基于光纤电流互感器独立双采样的采样异常检测方法及系统。

背景技术

在智能变电站中，为防止电子式互感器采集错误及模数处理单元出错，《智能变电站继电保护技术规范》要求“电子式互感器内应由两路独立的采样系统进行采集，每路采样系统应采用双A/D系统接入MU，每个MU输出两路数字采样值由同一路通道进入一套保护装置，以满足双重化保护相互完全独立的要求”。对于光纤电流互感器，由于需要进行闭环反馈，为满足双AD要求，通常需要配置两套传感环和采集电路，而为满足保护双重化的需求，则需要四套传感环及采集电路，具体方案如图1所示。

采用现有技术的多套传感环和采集电路的技术方案后，致使光纤电流互感器的材料成本成倍的增长，相对于相同配置要求的其他原理的电子式互感器也是高出几倍，而对于可靠性较高的传感元件的双配置，也是对资源的一种浪费。

因此，需要一种技术，以实现基于光纤电流互感器独立双采样的结构，实现对采样异常数据的检测。

发明内容

本发明提出了一种基于光纤电流互感器独立双采样的采样异常检测方法及系统，以解决实现光纤电流互感器的异常检测问题，同时降低光纤电流互感器生产材料成本。

为了解决上述问题，本发明提供了一种基于光纤电流互感器独立双采样的采样异常检测方法，所述方法包括：

建立多条采样回路，将所述多条采样回路中的一条设置为主采样回路，其余采样回路设置为副采样回路；所述多条采样回路共用光路系统；

通过所述主采样回路的FPGA控制电路控制所述主采样回路与所述副采样回路进行分时采样；

所述副采样回路进行采样后，通过所述副回路的FPGA控制电路将副采样回路的采样数据发送至主采样回路的FPGA控制电路；

通过主采样回路的FPGA控制电路对所述主采样回路的采样数据与所述副采样回路的采样数据进行比较，获取主采样回路的采样数据与副采样回路的采样数据的差异值；

将所述差异值与预设的采样数据的异常阈值进行比较，当所述差异值不超过异常阈值时，通过主采样回路的FPGA控制电路将主采样回路的采样数据与所述副采样回路的采样数据打包在不同的数据通道中，发送至合并单元。

优选地，所述主采样回路与所述副采样回路进行分时采样，其中所述主采样回路的采样时间高于所述副采样回路的采样时间。

优选地，通过所述主采样回路的FPGA控制电路控制所述主采样回路与所述副采样回路的采样时间。

优选地，所述主采样回路和所述副采样回路分别建立一条。

优选地，将所述差异值与预设的采样数据的异常阈值进行比较，当所述差异值超过异常阈值时，将所述主采样回路的采样数据与副采样回路的采样数据设置为无效。

基于本发明的另一方面，提供一种基于光纤电流互感器独立双采样的采样异常检测系统，所述系统包括：

建立单元，用于建立多条采样回路，将所述多条采样回路中的一条设置为主采样回路，其余采样回路设置为副采样回路；所述多条采样回路共用光路系统；

采样单元，用于通过所述主采样回路的FPGA控制电路控制所述主采样回路与所述副采样回路进行分时采样；

传输单元，用于所述副采样回路进行采样后，通过所述副回路的FPGA控制电路将副采样回路的采样数据发送至主采样回路的FPGA控制电路；

比较单元，用于通过主采样回路的FPGA控制电路对所述主采样回路的采样数据与所述副采样回路的采样数据进行比较，获取主采样回路的采样数据与副采样回路的采样数据的差异值；

结果单元，用于将所述差异值与预设的采样数据的异常阈值进行比较，当所述差异值不超过异常阈值时，通过主采样回路的FPGA控制电路将主采样回路的采样数据与所述副采样回路的采样数据打包在不同的数据通道中，发送至合并单元。

优选地，所述采样单元还用于：所述主采样回路与所述副采样回路进行分时采样，其中所述主采样回路的采样时间高于所述副采样回路的采样时间。

优选地，所述采样单元还用于：通过所述主采样回路的FPGA控制电路控制所述主采样回路与所述副采样回路的采样时间。

优选地，所述建立单元还用于：所述主采样回路和所述副采样回路分别建立一条。

优选地，所述结果单元还用于：将所述差异值与预设的采样数据的异常阈值进行比较，当所述差异值超过异常阈值时，将所述主采样回路的采样数据与副采样回路的采样数据设置为无效。