[发明专利]一种偏振泵浦探测装置

权利要求书

1.一种偏振泵浦探测装置，其特征在于，包括：激光产生组件（1）、泵浦激光调节组件、探测激光调节组件、第一偏振器（17）、第二偏振器（12）、第二分束器（10）、第三分束器（13）、合束器（18）、第一偏振检测器（14）、第二偏振检测器（22）、滤光器（23）和探测模块（27）；

所述激光产生组件（1）用于产生泵浦激光和探测激光；

所述泵浦激光调节组件用于调节所述泵浦激光的参数；

所述探测激光调节组件用于调节所述探测激光的参数，生成具有超连续谱的探测激光；

所述第二分束器（10）用于从所述探测激光中分出一路探测参考激光；

所述第一偏振器（17）用于调整所述泵浦激光的偏振状态；

所述第二偏振器（12）用于调整所述探测激光的偏振状态；

所述第三分束器（13）用于反射所述探测激光，并透射待测样品的反射光；

所述第一偏振检测器（14）用于对经第三分束器（13）透射的所述反射光进行检偏；

所述合束器（18）用于将所述泵浦激光和所述探测激光合束，并反射待测样品的反射光；

所述第二偏振检测器（22）用于对所述待测样品的透射光进行检偏；

所述滤光器（23）用于滤除所述透射光中的泵浦激光；

所述探测模块（27）用于对所述探测参考激光、反射光和透射光进行光谱探测；

所述泵浦激光调节组件、第一偏振器（17）、合束器（18）依次设置在所述泵浦激光的光路中；

所述探测激光调节组件、第二分束器（10）、第二偏振器（12）、第三分束器（13）、合束器（18）依次设置在所述探测激光的光路中。

2.根据权利要求1所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：所述泵浦激光调节组件包括依次设置在光路上的光参量放大器（2）、斩波器（3）和光强调节器（4）；

所述光参量放大器（2）用于调节所述泵浦激光的波长；

所述斩波器（3）用于调制泵浦光的脉冲；

所述光强调节器（4）用于调节泵浦激光的光强。

3.根据权利要求2所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：所述泵浦激光调节组件还包括第一分束器（16）、光强探测器（24）；

所述第一分束器（16）用于从所述泵浦激光中按比例分出一路泵浦参考激光；

所述光强探测器（24）用于测量所述泵浦参考激光的光强。

4.根据权利要求3所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：所述探测激光调节组件包括依次设置在光路上的延迟器（6）、超连续谱产生器（8）；

所述延迟器（6）用于调节探测激光的光程，控制探测激光和泵浦激光的光程差；

所述超连续谱产生器（8）用于将所述探测激光调节为超连续谱激光。

5.根据权利要求4所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：还包括设置在待测样品（21）前方的聚焦系统（20），用于聚集照射到待测样品（21）上的激光。

6.根据权利要求5所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：所述聚焦系统（20）为反射式物镜。

7.根据权利要求6所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：还包括收集组件（15）；所述收集组件（15）设置在所述探测模块（27）前端，用于对所述探测参考激光、和/或反射光、和/或透射光进行聚焦。

8.根据权利要求7所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：还包括设置在所述聚焦系统（20）前端的显微光学成像装置（26），所述显微光学成像装置（26）用于对所述待测样品（21）进行显微成像。

9.根据权利要求8所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：所述激光产生组件（1）包括一台激光器和第四分束器（29）；所述激光器用于产生激光，所述第四分束器（29）用于将所述激光分为泵浦激光和探测激光。

10.根据权利要求8或9所述的偏振泵浦探测装置，其特征在于：还包括计算机（28），所述计算机（28）分别与所述斩波器（3）、光强调节器（4）、延迟器（6）、探测模块（27）、光强探测器（24）和显微光学成像装置（26）连接；用于对所述斩波器（3）、光强调节器（4）、延迟器（6）进行控制，并接收所述光强探测器（24）、所述探测模块（27）的测量结果以及所述光学成像模块的成像图像。