[发明专利]集成电路测试装置

权利要求书

1.一种集成电路测试装置，包含：

一芯片时脉控制器，用来依据一输入时脉产生一输出时脉，其中该输出时脉是被用来测试一受测电路，且该受测电路是包含于该集成电路测试装置中；以及

一时脉选择电路，用来依据多个时脉的其中之一产生该输入时脉，该多个时脉包含一芯片时脉与一稳定时脉，或者该多个时脉包含二个不同的芯片时脉；

一时脉观察电路，用来依据该输出时脉产生一除频时脉，该除频时脉被输出至一测试机台或者该除频时脉被取样后与一默认值进行比较，以判断该输出时脉的频率是否符合一频率设定。

2.如权利要求1所述的集成电路测试装置，其中该多个时脉包含该二个不同的芯片时脉，该时脉选择电路先选择该二个不同的芯片时脉的其中之一作为该输入时脉，并于该输出时脉所关联的一测试状态为异常后，选择该二个不同的芯片时脉的另一个作为该输入时脉。

3.如权利要求1所述的集成电路测试装置，其中该多个时脉包含该芯片时脉与该稳定时脉，该时脉选择电路先选择该芯片时脉作为该输入时脉，并于该输出时脉所关联的一测试状态为异常后，选择该稳定时脉作为该输入时脉。

4.如权利要求1所述的集成电路测试装置，其中该时脉选择电路包含：

一选择电路，用来选择该多个时脉的其中之一作为一选择时脉；以及

一除频电路，用来对该选择时脉进行除频以产生一除频时脉，

其中该时脉选择电路先输出该选择时脉作为该输入时脉，并于该输出时脉所关联的一测试状态为异常后，输出该除频时脉作为该输入时脉。

5.如权利要求1所述的集成电路测试装置，其中该稳定时脉是来自该测试机台。