[发明专利]光源模块以及分析样品的分析仪器

权利要求书

1.一种用在分析至少一种样品(114)的分析仪器(112)中的光源模块(110)，该光源模块(110)包含至少一个发光二极管(LED，118)、和适合引导和成形该发光二极管(118)发出的光(122)的至少一根光导棒(120)，该光源模块(110)进一步包含至少一个存储器件(126)，该存储器件(126)在其中存储至少一个驱动参数集(128)，用于以产生该光源模块(110)提供的光(122)的所希望发射性质的方式驱动该发光二极管(118)。

2.根据权利要求1所述的光源模块(110)，其中该发光二极管(118)包含至少一个白色发光二极管(132)，优选的是至少一个发光二极管阵列(134)。

3.根据权利要求1或2所述的光源模块(110)，其中该存储器件(126)为该光源模块(118)的不同应用存储至少两个不同的驱动参数集(128)。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的光源模块(110)，其中该驱动参数集控制如下的一个或多个：该光源模块(110)提供的光(122)的功率；该光源模块(110)提供的光(122)的频率；该光源模块(110)提供的光(122)的至少一个频带；以及作为该光源模块(110)提供的光(122)的频率的函数的光(122)的强度分布。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光源模块(110)，其中该光源模块(110)包含至少一个控制单元(124)。

6.根据权利要求5所述的光源模块(110)，其中该控制单元(124)控制定时程序以通过时间分段驱动该光源模块(110)，其中每个时间分段在适合该光源模块(110)使用的频带中提供一种强度。

7.根据权利要求5或6所述的光源模块(110)，其中该控制单元(124)控制定时程序以激活该发光二极管(118)的发光元件，其中该发光二极管(118)包含两个或更多个发光元件，其中该两个或更多个发光元件发出不同频率的光。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的光源模块(110)，其中该存储器件(126)包含至少一个EEPROM。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的光源模块(110)，其中该光导棒(120)包含至少一个前端(154)，其中该前端(154)包含至少一个入射晶面(156)，其中该入射晶面(156)的几何形状与该发光二极管(118)的发光表面的表面区的几何形状匹配。

10.根据权利要求9所述的光源模块(110)，其中该入射晶面(156)具有在该发光二极管(118)的发光表面的表面区的-10％到+10％的范围内的表面区。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的光源模块(110)，其中该光导棒(120)包含一个后端(158)，其中该后端(158)包括一个出射晶面(160)，其中该出射晶面(160)包含至少一个散射表面(162)。

12.根据权利要求1至8中任一项所述的光源模块(110)，其中该光导棒(120)包含至少一个前端(154)和一个后端(158)，该发光二极管(118)发出的光(122)经该前端(154)进入该光导棒(120)，经该后端(158)射出，其中，该光导棒(120)从该前端朝着该后端锥形地变宽。

13.一种分析至少一种样品(114)的分析仪器(112)，该分析仪器(112)包含根据权利要求1至12中任一项所述的光源模块(110)，该分析仪器(112)具有用于该光源模块(110)产生的光的入射窗，该分析仪器(112)适用于将该光源模块(110)发出的光(122)引到至少一种样品(114)上。

14.根据权利要求13所述的分析仪器(112)，其中该分析仪器(112)进一步包含适用于接收光(122)的至少一个光检测器(168)，该光(122)是样品(114)发出的光(122)、透射通过样品(114)的光(122)和样品(114)反射的光(122)的一种或多种。

15.一种包含分析仪器(112)的分析系统，该分析仪器(112)包括含有非发光二极管光源的第一光源模块和带有发光二极管光源(118)的第二光源模块(110)，该第二光源模块(110)的光特性适合模拟第一光源模块特性。