[发明专利]电流测定装置有效
申请号: | 201711039267.1 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN108020702B | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 竹中一马 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R15/18;G01R15/20 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流 测定 装置 | ||
1.一种电流测定装置,其具有:
低频测量用传感器,其对由于被测定电流而产生的磁场进行测定;
高频测量用传感器,其以使得所述低频测量用传感器和磁感方向大致平行的方式配置,对所述磁场进行测定,产生将施加于所述低频测量用传感器的所述磁场抵消的磁场;
负反馈电路,其基于由所述低频测量用传感器测定出的所述磁场,对流过所述高频测量用传感器的电流进行控制;
低通滤波器,其配置于所述负反馈电路内,对流过所述高频测量用传感器的、由所述负反馈电路控制的所述电流的频率特性进行调整;以及
输出部,其基于流过所述高频测量用传感器的所述电流,输出所述被测定电流的测定值,
所述高频测量用传感器连接于环形状的第1线,
所述低频测量用传感器连接于环形状的第2线以及第3线,
所述负反馈电路经由所述第2线从所述低频测量用传感器接收输出信号,将与所述输出信号相对应的电流经由所述第1线供给至所述高频测量用传感器,
所述低频测量用传感器经由所述第3线被供给驱动电流或驱动电压,受到驱动,
所述第1线、所述第2线以及所述第3线由同一包覆层捆束而形成环形状,环绕导体。
2.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述高频测量用传感器包含所述低频测量用传感器。
3.根据权利要求1或2所述的电流测定装置,其中,
所述高频测量用传感器具有线圈。
4.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
多组所述高频测量用传感器连接于所述第1线,
多组所述低频测量用传感器连接于所述第2线以及所述第3线。
5.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述高频测量用传感器是在中空的圆筒状的绝缘体将导线卷绕成螺旋状得到的传感器。
6.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器具有高灵敏度磁阻传感器和低灵敏度磁阻传感器,
所述高灵敏度磁阻传感器与所述低灵敏度磁阻传感器平行配置,
所述高灵敏度磁阻传感器的磁感方向与所述低灵敏度磁阻传感器的磁感方向相同。
7.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器是磁阻抗传感器,该磁阻抗传感器具有磁阻抗元件、对所述磁阻抗元件的磁阻抗效应进行检测的检测线圈。
8.根据权利要求7所述的电流测定装置,其中,
所述磁阻抗元件是在周方向具有磁各向异性的无定形磁性线。
9.根据权利要求7所述的电流测定装置,其中,
所述磁阻抗元件是在硅基板上形成的具有软磁性薄膜的元件。
10.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器具有对垂直于表面的方向的磁场分量进行检测的横向型霍尔元件。
11.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器具有对相对于表面水平的方向的磁场分量进行检测的纵向型霍尔元件。
12.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器具有被测定磁场和驱动磁场为相同方向的平行磁通门元件。
13.根据权利要求1所述的电流测定装置,其中,
所述低频测量用传感器具有被测定磁场和驱动磁场相正交的正交磁通门元件。
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