[发明专利]一种电容屏感应层的加工方法在审
申请号: | 201711041697.7 | 申请日: | 2017-10-30 |
公开(公告)号: | CN107656662A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 陈钟辉;程功哲;彭国锋 | 申请(专利权)人: | 广州华欣电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人: | 麦小婵,郝传鑫 |
地址: | 510663 广东省广州市高新技术产*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电容 感应 加工 方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种电容屏感应层的加工方法。
背景技术
电容屏广泛应用于手机和电脑等数码产品中,为了保证电容屏的质量,每个电容屏在出厂之前都需要对电容屏进行短路和断路检测。
目前,现有的电容屏感应层的加工流程一般为:首先在电容屏感应层的上层(Top层)上与下层(Bottom层)上加工图案(Pattern)和外围走线(Trace),然后贴合Top层和Bottom层。然而,这种加工方法在进行电容屏感应层测试时,由于Top层和Bottom层已经贴合,因此导致无法区别电容屏感应层的短路或断路是发生在Top层上还是Bottom层上,一旦发现电容屏感应层短路或断路,只能报废整个产品,从而造成合格的Top层或Bottom层的浪费,进而大大提高了电容屏的成本。
发明内容
本发明的目的是提供一种电容屏感应层的加工方法,其能够确保在Top层和Bottom层进行测试后,再贴合合格的Top层和合格的Bottom层,以避免合格的Top层或Bottom层的浪费,从而降低电容屏的成本。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种电容屏感应层的加工方法,包括以下步骤:
固定电容屏感应层的上层;
在固定的所述上层上加工多条第一图案和多条第一外围走线;
对加工所述第一图案和所述第一外围走线后的所述上层进行短路和断路测试;
固定电容屏感应层的下层;
在固定的所述下层上加工多条第二图案和多条第二外围走线;
对加工所述第二图案和所述第二外围走线后的所述下层进行短路和断路测试;
在分别判断所述上层和所述下层短路的断路测试合格后,将测试合格的所述上层与测试合格的所述下层贴合形成电容屏感应层。
作为优选方案,所述电容屏感应层的加工方法还包括步骤:
在判断所述上层短路测试不合格时,重新加工短路的所述第一图案和所述第一外围走线;
对重新加工的所述第一图案和所述第一外围走线进行短路和断路测试;
在判断所述下层短路测试不合格时,重新加工短路的所述第二图案和所述第二外围走线;
对重新加工的所述第二图案和所述第二外围走线进行短路和断路测试。
作为优选方案,所述在固定的所述上层上加工多条第一图案和多条第一外围走线,具体包括:
分别加工固定的所述上层的每一条所述第一图案,以使每一条所述第一图案的一端与所述上层的一端上的第一导电搭接块电连接,每一条所述第一图案的另一端与所述上层的另一端上的第二导电搭接块电连接;其中,所述第一导电搭接块和所述第二导电搭接块均为多个,且多条所述第一图案与多个所述第一导电搭接块和多个所述第二导电搭接块均为一一对应的关系;
分别加工固定的所述上层的每一条所述第一外围走线,以使每一条所述第一外围走线的一端与所述上层的另一端上的第二导电搭接块电连接,每一条所述第一外围走线的另一端与所述上层的绑定区域上的第三导电搭接块电连接;其中,所述第三导电搭接块均为多个,且多条所述第一外围走线与多个所述第二导电搭接块和多个所述第三导电搭接块均为一一对应的关系。
作为优选方案,所述对加工所述第一图案和所述第一外围走线后的所述上层进行短路和断路测试,具体包括:
将一个测试针依次与每一条所述第一图案对应的所述第三导电搭接块电连接,将另一个测试针依次与该第一图案相邻的另一条所述第一图案对应的所述第三导电搭接块电连接,进行每一相邻的两条所述第一图案和每一相邻的两条所述第一外围走线的短路测试;
将一个测试针依次与每一条所述第一图案对应的所述第一导电搭接块电连接,将另一个测试针依次与该第一图案对应的所述第三导电搭接块电连接,进行每一条所述第一图案和每一条所述第一外围走线的断路测试。
作为优选方案,所述在判断所述上层短路测试不合格时,重新加工短路的所述第一图案和所述第一外围走线,具体包括:
检测所述第一图案的短路位置;
在检测出所述第一图案短路位置后,重新加工短路的所述第一图案的短路位置;
检测所述第一外围走线的短路位置;
在检测出所述第一外围走线的短路位置后,重新加工短路的所述第一外围走线的短路位置。
作为优选方案,所述在固定的所述下层上加工多条第二图案和多条第二外围走线,具体包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州华欣电子科技有限公司,未经广州华欣电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711041697.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。