[发明专利]一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法

说明书

本发明公开了一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法，该旋转式SMT首件检测系统包括XY运动系统、旋转台、激光发射器和相机，该校准方法是以相机拍照范围的中心点作为过渡点，先将SMT首件上的点移动至相机拍照范围的中心点上，再通过激光发射器的激光照射点与相机拍照范围的中心点的位移关系，将位于相机拍照范围的中心点的SMT首件的点移动至激光发射器的激光照射点的位置上，而通过旋转坐标计算的过程中得到的计算公式可计算得到在SMT首件上的点旋转90°、180°和270°后移动至相机拍照范围的中心点时的坐标，通过该校准方法实现SMT首件上的被测元件在SMT首件旋转和未旋转时均能移动至激光发射器的激光照射点位置。

技术领域

本发明涉及一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法。

背景技术

在SMT生产过程中，转产、转班、停线后再继续生产的第一块板或前几块板需确认无误后才可以进行批量生产，这个确认的过程就叫做SMT首件检测，传统的首件检测方式通常是两个人进行，一个人测试，一个记录，检测员将待测试的PCB板放在设备台面上，通过连接在LCR测试仪上的测试夹对PCB板上的每一个电子元件夹持进行电阻、电容、电感等参数测量，由于电子元件有水平固定的和垂直固定的，在测量时，测试夹需要针对水平固定的和垂直固定的电子元件进行转动切换，给检测员带来不便，降低了效率。

而且在对较大的SMT首件进行检测时，检测员往往需要对SMT首件进行旋转才能对较远位置的电子元件进行测量，但是电子元件一般多而小，在旋转后也不容易找到需测量的电子元件的位置。

为了解决上述问题，可将SMT首件装夹在一个旋转台上，并将该旋转台安装在XY运动系统中，由XY运动系统带动旋转台在XY方向运动。再在旋转台运动范围的上方固定一个激光发射器，该激光发射器发出向下照射的激光，在现有的SMT首件检测设备中通常都设有相机，相机与显示器连接，拍摄的图像显示在显示器中，将该相机也固定在旋转台运动范围的上方，上述装配结构即为一种旋转式SMT首件检测系统。通过旋转和移动即可将SMT首件上的任何被测元件移动到激光发射器的照射点上，这样检测员直接对激光发射器的照射位置进行测量即可，减少检测员旋转SMT首件和找寻电子元件的工作，提高了效率，还可以通过XY运动系统的移动将SMT首件送至相机下方进行拍照。

而在上述的装置中，一个较大的难点是如何能使得SMT首件上在未旋转时其上的被测元件能精确移动至激光发射器的照射点位置，并且在旋转90°、180°和270°后其上的点也可以移动至激光发射器的照射点位置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题，就是提供一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法，通过该校准方法实现SMT首件上的被测元件在SMT首件旋转和未旋转时均能移动至激光发射器的激光照射点位置。

解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法，旋转式SMT首件检测系统包括XY运动系统、旋转台、激光发射器和相机，旋转台安装于XY运动系统上，由XY运动系统带动旋转台在XY方向运动，激光发射器和相机固定安装于旋转台运动范围的上方，检测时，SMT首件装夹于旋转台的台面上，校准方法包括以下过程：

检测前的旋转坐标计算，包括以下步骤：

步骤一，选取所述旋转台的台面的左下角或右下角的其中一个点作为校准点；

步骤二，通过所述XY运动系统将所述校准点移动至所述激光发射器的激光照射点上，记下此时的XY坐标为x_0测、y_0测；

步骤三，通过所述XY运动系统将所述校准点移动至所述相机拍照范围的中心点上，记下此时的XY坐标为x_0相、y_0相；