[发明专利]一种电压容限自动测试系统及方法

说明书

本发明涉及电子产品测试方法，其公开了一种电压容限自动测试系统及方法，解决传统技术中电子产品电压容限测试方法存在调节范围窄、调节精度低、测试效率低、受使用环境局限的问题。该系统包括电压容限测试装置、被测设备、控制终端：本发明中，通过控制终端设置预设调节参数并传输给电压容限测试装置；在选择调节模式后，电压容限测试装置对预设调节参数进行初始化处理，生成每次调节电压值与对应匹配电阻值的表单；根据表单自动调节输出至被测设备电源模块的匹配电阻值阻值大小，从而调节被测设备电源模块输出电压，对后级芯片进行电压容限测试，并读取被测设备电源模块的反馈电压上传至控制终端；在达到停止测试触发条件时停止测试。

技术领域

本发明涉及电子产品测试方法，具体涉及一种电压容限自动测试系统及方法。

背景技术

随着电子产品应用场景越来越复杂，业务模式越来越多变，随之对它的可靠性要求越来越高，各种容限测试方法应运而生。容限测试的目的是衡量产品在某一方面的裕量，只有裕量充足的情况下才能保证电子产品在极端条件下稳定可靠的工作。

目前行业内测试电子产品电压容限的常见方法有：

1、用各种阻值的电阻直接更换电源模块的匹配电阻进行电压调节，此方法极度繁琐，且受电阻各种阻值局限，可调灵活度较低，并且在实验环境下不具有可操作性；

2、用滑动变阻器替代电源模块的匹配电阻，此方法相对上一种方法而言要灵活一些，效率还是较低。滑动变阻器手动调节时精度不可控会造成电压调节精度也不可控，在精度要求高的地方不实用，并且在实验环境下不具有可操作性；

3、由各种阻值的电阻组合而成的远程可调装置，用它替代电源模块的匹配电阻进行电压调节，此方法中也会面临可调阻值过少的问题，若想扩大可调范围，则成本和装置体积会大大的增加，而且仍需要人工计算与调节，自动化程度不高，导致效率也相对较低，但该方法可应用于实验环境下。

综上，目前行业内测试电子产品电压容限的上述方法主要存在调节范围窄，调节精度低，测试效率低，受使用环境局限的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提出一种电压容限自动测试系统及方法，解决传统技术中电子产品电压容限测试方法存在调节范围窄、调节精度低、测试效率低、受使用环境局限的问题。

一方面，本发明的实施例提出了一种电压容限自动测试系统，其包括电压容限测试装置、被测设备、控制终端：

所述电压容限测试装置，用于接收通过控制终端设置的预设调节参数，根据电压调节模式对预设调节参数进行初始化处理，生成每次调节电压值与对应匹配电阻值的表单；

根据所述表单自动调节输出至被测设备电源模块的匹配电阻值阻值大小，从而调节被测设备电源模块输出电压，对后级芯片进行电压容限测试，并读取被测设备电源模块的反馈电压上传至控制终端；

还用于在收到控制终端停止测试命令或者被测设备的中断信号或者达到最大允许电压时，停止测试；

所述被测设备，用于在检测到被测试芯片工作异常时，向电压容限测试装置发出中断信号；

所述控制终端，用于设置电压容限测试装置的预设调节参数，以及接收并显示被测设备电源模块的反馈电压，记录调节过程和结果。

作为进一步优化，所述电压容限测试装置包括：MCU、可编程电阻单元和蓝牙收发器；所述可编程电阻单元及蓝牙收发器均连接MCU；所述电压容限测试装置通过蓝牙收发器与控制终端通信。

作为进一步优化，所述电压容限测试装置上设置有三组接口，分别连接到被测设备的电源模块电压输出端口，匹配电阻输入端以及CPU中断信号输出引脚。

作为进一步优化，所述可编程电阻单元包括三个不同精度的数字电位器。