[发明专利]阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法有效
申请号: | 201711049384.6 | 申请日: | 2017-10-31 |
公开(公告)号: | CN107728395B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 张伟;方业周;孙乐;张文龙;王广帅 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G09G3/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 柴亮;张天舒 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 显示装置 数据线 不良 检测 装置 方法 | ||
1.一种阵列基板,包括:多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元,其特征在于,所述阵列基板还包括与多条数据线连接的数据信号输入总线,以及与多个像素单元连接的用于提供检测信号的检测线,其中,所述检测信号的极性与数据信号的极性相反;所述数据线远离所述数据信号输入总线的一端与所述检测线连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述检测线设于像素单元远离所述数据信号输入总线的一侧。
3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述数据信号输入总线与多条数据线之间设有第一开关组,用于控制数据信号输入总线与多条数据线之间的通断。
4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述数据信号输入总线包括用于向奇数列数据线提供数据信号的第一引线和用于向偶数列数据线提供数据信号的第二引线,所述第一引线与第二引线的数据信号不同。
5.根据权利要求4所述的阵列基板,其特征在于,所述第一开关组包括第三开关和第四开关,所述第三开关设于第一引线与奇数列数据线之间,用于控制第一引线与奇数列数据线之间的通断;所述第四开关设于第二引线与偶数列数据线之间,用于控制第二引线与偶数列数据线之间的通断。
6.根据权利要求5所述的阵列基板,其特征在于,所述检测线与像素单元之间设有第二开关组,用于控制检测线与像素单元之间的通断。
7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,所述检测 线包括第一检测线和第二检测线,所述第一检测线提供的检测信号与对应的第一引线提供的数据信号的极性相反;所述第二检测线提供的检测信号与对应的第二引线提供的数据信号的极性相反。
8.根据权利要求7所述的阵列基板,其特征在于,所述第二开关组包括第五开关和第六开关;所述第五开关设于第一检测线与对应的像素单元之间,用于控制第一检测线与对应的像素单元之间的通断;所述第六开关设于第二检测线与对应的像素单元之间,用于控制第二检测线与对应的像素单元之间的通断;
其中,所述第五开关与第三开关同时导通或关断,所述第六开关与第四开关同时导通或关断。
9.一种数据线不良的检测方法,用于检测如权利要求1-8任一项所述的阵列基板,其特征在于,包括以下步骤:
向数据线提供数据信号同时向检测线提供检测信号;其中所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反;所述数据线远离所述数据信号输入总线的一端与所述检测线连接;
检测与数据线连接的像素单元是否被点亮,并判断该像素单元是否存在不良。
10.一种数据线不良的检测装置,用于检测如权利要求1-8任一项所述的阵列基板,其特征在于,包括:
数据信号提供单元,用于向数据线提供数据信号;
检测信号提供单元,用于向检测线提供检测信号;
亮度检测单元,用于在检测信号提供单元提供检测信号时,检测与数据线连接的像素单元是否被点亮,并判断该像素单元是否存在不良;
其中,所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反;所述数据线远离所述数据信号输入总线的一端与所述检测线连接。
11.一种显示装置,其特征在于,包括权利要求1-8任一所述的阵列基板。
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