[发明专利]一种便于AFM测试涂层生长动力学模型的样品制备方法

权利要求书

1.一种便于AFM测试涂层生长动力学模型的样品制备方法,具体操作包括以下步骤：

a.在制备涂层之前，将金属基材表面一部分用绝缘漆覆盖；

b.金属基材浸没在转化膜溶液中1-20分钟，取出后经水洗烘干后，静待后续处理；

c.便于AFM测试的样品制备，需在有涂层覆盖的区域，其中一部分不作处理，保留原始状态，获得涂层覆盖区域，即I区域；另一部分利用强力胶带机械剥离转化膜，获得涂层完全剥离区域，即II区域；绝缘漆覆盖的区域，通过机械剥离绝缘漆获得未参与涂层生长的区域，即III区域；

d.采用AFM测试涂层覆盖区域与涂层完全剥离区域，涂层完全剥离区域与未参与涂层生长的区域之间的高度差，以此获取建立涂层生长动力学模型所需的涂层厚度和金属基材消耗厚度；

e.整理数据；

其中步骤d中获取建立涂层生长动力学模型所需的涂层厚度和金属基材消耗厚度：是指涂层覆盖区域与涂层完全剥离区域之间的高度差即为该制备时间内涂层生长厚度；涂层完全剥离区域与未参与涂层生长的区域之间的高度差为金属基材在该制备时间内的消耗厚度。

2.如权利要求1所述的涂层生长动力学模型的样品制备方法，其特征在于，样品制备方法在于涂层表面机械剥离和绝缘覆盖，不会影响涂层自身生长。

3.如权利要求1所述的涂层生长动力学模型的样品制备方法，其特征在于，仅仅需要一次AFM加载，可获得涂层生长和基材消耗的重要尺度参数。

4.如权利要求1所述的涂层生长动力学模型的样品制备方法，其特征在于，测试环境为自然空气环境，操作简便。

5.如权利要求1所述的涂层生长动力学模型的样品制备方法，其特征在于，这种方法还可进而表征涂层底部界面形貌信息。