[发明专利]固体物料的近红外分析系统及方法

权利要求书

1.一种固体物料的近红外分析系统，所述近红外分析系统包括近红外分析仪；其特征在于：所述近红外分析系统进一步包括：

粉碎设备，所述粉碎设备用于将所述固体物料粉碎，并输送到搅拌设备；

控温设备，所述控温设备用于将所述粉碎设备内的温度T，防止水分冷凝；

搅拌设备，所述搅拌设备用于混合粉碎设备输送来的粉末状物料；

第一阀，所述第一阀设置在所述搅拌设备的出口；

检测室，所述检测室用于容纳所述搅拌设备输送来的粉末状物料，所述近红外分析仪检测所述检测室内的粉末状物料的参数；所述参数包括干基蛋白B₁；

第二阀，所述第二阀设置在所述检测室的出口。

2.根据权利要求1所述的近红外分析系统，其特征在于：所述近红外分析系统进一步包括：

水分检测仪，所述水分检测仪分析未粉碎的固体物料，获得水分含量A₂。

3.根据权利要求2所述的近红外分析系统，其特征在于：所述近红外分析系统进一步包括：

处理单元，所述处理单元根据水分含量A₁、A₂以及干基蛋白B₁获得所述固体物料的真实蛋白所述参数还包括水分含量A₁。

4.根据权利要求1所述的近红外分析系统，其特征在于：所述制冷设备采用水冷方式，并附着在所述粉碎设备的外壁。

5.根据权利要求1所述的近红外分析系统，其特征在于：所述近红外分析系统进一步包括：

气源，所述气源提供的气体的压力大于0.1MPa；

管道，所述管道的一端连通所述气源，另一端适于将气体送往所述粉碎设备内。

6.根据权利要求1所述的近红外分析系统，其特征在于：所述固体物料是颗粒状。

7.根据权利要求1所述的近红外分析系统，其特征在于：所述温度T的范围为35℃≤T≤45℃。

8.固体物料的近红外分析方法，所述固体物料的近红外分析方法包括以下步骤：

(A1)取样的固体物料进入粉碎设备，输出的粉末状物料送搅拌设备；

所述粉碎设备被控温，防止所述粉碎设备内的水分冷凝；

(A2)搅拌设备混匀粉末状物料，直至所述取样的固体物料经过经粉碎后进入搅拌设备内；

(A3)混匀后的粉末状物料进入检测室内，近红外分析仪检测粉末状物料的参数，所述参数包括干基蛋白B₁。

9.根据权利要求1所述的近红外分析方法，其特征在于：所述固体物料的近红外分析方法包括以下步骤：

(A4)气源提供的压力大于0.1MPa的气体吹扫所述粉碎设备、搅拌设备、检测室内部。

10.根据权利要求1所述的近红外分析方法，其特征在于：在步骤(A3)中，处理单元根据水分含量A₁、A₂以及干基蛋白B₁获得所述固体物料的真实蛋白所述参数还包括水分含量A₁，A₂为水分检测仪获得的未粉碎的固体物料的水分含量。