[发明专利]MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路及制备方法有效
申请号: | 201711051350.0 | 申请日: | 2017-10-31 |
公开(公告)号: | CN107933969B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 朱健;王守旭;贾世星;杜国平;王冬蕊 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;B64G1/40;B81B7/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mems 推进器 阵列 芯片 寻址 点火 电路 制备 方法 | ||
1.一种MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路,其特征在于,包括衬底、金属引线和绝缘介质层;
所述金属引线和绝缘介质层均为多层布置,第一层金属引线设置在衬底上,第一层绝缘介质层沉积在第一层金属引线上方,第二层金属引线设置在第一层绝缘介质层上,第二层绝缘介质层沉积在第二层金属引线上方,重复上述布置方式,得到多层金属引线立体化布置的寻址点火电路;每一层绝缘介质层的厚度大于该绝缘介质层所覆盖的金属引线厚度;对每一层绝缘介质层的表面进行平坦化。
2.根据权利要求1所述的MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路,其特征在于,绝缘介质层的材料为氮化硅、二氧化硅或者聚酰亚胺。
3.一种制备权利要求1所述MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,在衬底上布置换能元阵列和寻址电路母线;
步骤2,在衬底表面制作第一层图形化的金属引线;
步骤3,在第一层金属引线表面沉积/涂覆绝缘介质层;
步骤4,在绝缘介质层表面制作图形化的金属引线;
步骤5,在金属引线表面沉积/涂覆绝缘介质层;
步骤6,重复步骤4和步骤5,完成多层金属引线的立体化布置,每一层绝缘介质层的厚度大于该绝缘介质层所覆盖的金属引线厚度;
步骤3和步骤5中,对绝缘介质层表面进行平坦化。
4.根据权利要求3所示MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路的制备方法,其特征在于,绝缘介质层的材料为氮化硅、二氧化硅或者聚酰亚胺。
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