[发明专利]MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路及制备方法有效

专利信息
申请号: 201711051350.0 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107933969B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 朱健;王守旭;贾世星;杜国平;王冬蕊 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;B64G1/40;B81B7/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 陈鹏
地址: 210016 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: mems 推进器 阵列 芯片 寻址 点火 电路 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路,其特征在于,包括衬底、金属引线和绝缘介质层;

所述金属引线和绝缘介质层均为多层布置,第一层金属引线设置在衬底上,第一层绝缘介质层沉积在第一层金属引线上方,第二层金属引线设置在第一层绝缘介质层上,第二层绝缘介质层沉积在第二层金属引线上方,重复上述布置方式,得到多层金属引线立体化布置的寻址点火电路;每一层绝缘介质层的厚度大于该绝缘介质层所覆盖的金属引线厚度;对每一层绝缘介质层的表面进行平坦化。

2.根据权利要求1所述的MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路,其特征在于,绝缘介质层的材料为氮化硅、二氧化硅或者聚酰亚胺。

3.一种制备权利要求1所述MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,在衬底上布置换能元阵列和寻址电路母线;

步骤2,在衬底表面制作第一层图形化的金属引线;

步骤3,在第一层金属引线表面沉积/涂覆绝缘介质层;

步骤4,在绝缘介质层表面制作图形化的金属引线;

步骤5,在金属引线表面沉积/涂覆绝缘介质层;

步骤6,重复步骤4和步骤5,完成多层金属引线的立体化布置,每一层绝缘介质层的厚度大于该绝缘介质层所覆盖的金属引线厚度;

步骤3和步骤5中,对绝缘介质层表面进行平坦化。

4.根据权利要求3所示MEMS微推进器阵列芯片用寻址点火电路的制备方法,其特征在于,绝缘介质层的材料为氮化硅、二氧化硅或者聚酰亚胺。

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