[发明专利]电能表电压合格率的统计方法

权利要求书

1.一种电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，包括MCU(1)、计量单元电路(2)、电压电流采样电路(3)、存储器(4)和通信单元电路(5)；所述电压电流采样电路与计量单元电路电连接，所述MCU分别与计量单元电路、电压电流采样电路、存储器和通信单元电路电连接；包括如下步骤：

(1-1)设置电能表电压值的电压合格上限、电压合格下限、电压考核上限和电压考核下限；

(1-2)计量单元电路通过电压电流采样电路采集分相电压和分相电流；

(1-3)MCU控制计量单元电路分别计算分相电压监测总时间和合相电压监测总时间；其中，计算电压监测总时间的电压范围为电压考核上限和电压考核下限之间；

(1-4)MCU控制计量单元电路分别计算分相电压超限时间和合相电压超限时间，其中，计算电压超限时间的电压范围为电压合格上限和电压考核上限之间或者电压合格下限和电压考核下限之间；

(1-5)MCU分别计算分相电压合格率、合相电压合格率、分相电压超限率和合相电压超限率。

2.根据权利要求1所述的电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，还包括如下步骤：

(2-1)MCU将分相电压合格率、合相电压合格率、分相电压超限率和合相电压超限率存入存储器；

(2-2)MCU控制通信单元电路工作，进行电能表的远程管理。

3.根据权利要求1所述的电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，分相电压合格率和合相电压合格率的计算公式如下：

4.根据权利要求3所述的电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，分相电压包括A相电压、B相电压和C相电压；合相电压超限时间的统计计算方法如下：

当A相、B相和C相三相电压中至少有一相电压的电压值位于电压合格上限和电压考核上限之间或者位于电压合格下限和电压考核下限之间时，对合相电压超限时间进行累加；

当A相、B相和C相三相电压的电压值均位于电压合格上限和电压合格下限之间时，或者当A相、B相和C相三相电压中至少有一相电压的电压值超过电压考核上限或电压考核下限时，对合相电压超限时间停止累加。

5.根据权利要求3所述的电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，分相电压包括A相电压、B相电压和C相电压；合相电压监测统计总时间的统计计算方法如下：

当A相、B相和C相三相电压的电压值均位于电压考核上限和电压考核下限之间时，对电压监测统计总时间进行累加；

当A相、B相和C相三相电压中有一相电压的电压值超过电压考核上限或电压考核下限时，停止电压监测统计总时间的累加。

6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的电能表电压合格率的统计方法，其特征在于，根据分相电压合格率计算分相电压超限率，根据合相电压合格率计算合相电压超限率，具体的计算公式如下：

分相电压超限率＝1-分相电压合格率；

合相电压超限率＝1-合相电压合格率。