[发明专利]专用于对传感器进行多点检测的手工圆度仪在审
申请号: | 201711059753.X | 申请日: | 2017-11-01 |
公开(公告)号: | CN107727046A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 蒲芳芳 | 申请(专利权)人: | 蒲芳芳 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610000 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 专用 传感器 进行 多点 检测 手工 圆度仪 | ||
技术领域
本发明涉及圆度仪,尤其是涉及专用于对传感器进行多点检测的手工圆度仪,属于精密机械设备。
背景技术
国家标准GB7665-87对传感器下的定义是:“能感受规定的被测量件并按照一定的规律转换成可用信号的器件或装置,通常由敏感元件和转换元件组成”。传感器是一种检测装置,能感受到被测量的信息,并能将检测感受到的信息,按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出,以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。它是实现自动检测和自动控制的首要环节。
新技术革命的到来,世界开始进入信息时代。在利用信息的过程中,首先要解决的就是要获取准确可靠的信息,而传感器是获取自然和生产领域中信息的主要途径与手段。在现代工业生产尤其是自动化生产过程中,要用各种传感器来监视和控制生产过程中的各个参数,使设备工作在正常状态或最佳状态,并使产品达到最好的质量。因此可以说,没有众多的优良的传感器,现代化生产也就失去了基础。在基础学科研究中,传感器更具有突出的地位。现代科学技术的发展,进入了许多新领域:例如在宏观上要观察上千光年的茫茫宇宙,微观上要观察小到fm的粒子世界,纵向上要观察长达数十万年的天体演化,短到s的瞬间反应。此外,还出现了对深化物质认识、开拓新能源、新材料等具有重要作用的各种极端技术研究,如超高温、超低温、超高压、超高真空、超强磁场、超弱磁场等等。显然,要获取大量人类感官无法直接获取的信息,没有相适应的传感器是不可能的。许多基础科学研究的障碍,首先就在于对象信息的获取存在困难,而一些新机理和高灵敏度的检测传感器的出现,往往会导致该领域内的突破。
传感器早已渗透到诸如工业生产、宇宙开发、海洋探测、环境保护、资源调查、医学诊断、生物工程、甚至文物保护等等极其之泛的领域。可以毫不夸张地说,从茫茫的太空,到浩瀚的海洋,以至各种复杂的工程系统,几乎每一个现代化项目,都离不开各种各样的传感器。由此可见,传感器技术在发展经济、推动社会进步方面的重要作用,是十分明显的。世界各国都十分重视这一领域的发展。相信不久的将来,传感器技术将会出现一个飞跃,达到与其重要地位相称的新水平。在进行传感器的检测中,传统采用电机带动检测中,由于电机的震动,使得检测结果的误差很大,导致传感器的质量不稳定,容易造成生产事故。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足,提供专用于对传感器进行多点检测的手工圆度仪,该手工圆度仪的结构简单,制作成本低,能够准确地对传感器的圆度进行检测,减少了电机的震动带来的误差,精确的检测结果避免了低劣传感器的漏检,提高了传感器的质量。
本发明的目的通过下述技术方案实现:专用于对传感器进行多点检测的手工圆度仪,包括底板,所述底板上方设置有与其上端面垂直的两块支撑板,所述支撑板包括主支撑板和副支撑板,底板上设置有安装柱,所述安装柱上设置有圆度显示表A,且安装柱设置在主支撑板和副支撑板之间,圆度显示表A连接有探针A;所述副支撑板上设置有支撑杆,所述支撑杆上设置有圆度显示表B,圆度显示表B连接有探针B,且探针A的底端与探针B的底端在同一水平面内;所述主支撑板在远离安装柱的一侧上设置有转动齿轮,所述转动齿轮包括相互啮合的主转动齿轮和从转动齿轮,且主转动齿轮上设置有转动手柄,从转动齿轮上设置有安装轴,且安装轴一端穿过支撑板后靠近探针B,且该段安装轴上设置有夹具。
进一步地,所述探针B的中心线与铅垂线呈30°至60°的夹角。
进一步地,所述探针B的中心线与铅垂线呈45°的夹角。
进一步地,所述支撑杆包括上支撑杆和下支撑杆,所述下支撑杆一端与副支撑板固定,另一端与上支撑杆连接,上支撑杆远离下支撑杆的一端设置有布线板,圆度显示表B和探针B均设置在布线板上。
进一步地,所述上支撑杆和下支撑杆之间通过连接头连接,上支撑杆和下支撑杆均能绕着连接头转动,且连接头上设置有调整阀。
进一步地,所述主支撑板和副支撑板之间设置有支承辊,且支承辊的两端分别与对应的主支撑板和副支撑板垂直连接。
综上所述,本发明的有益效果是:该手工圆度仪的结构简单,制作成本低,能够准确地对传感器的圆度进行检测,减少了电机的震动带来的误差,精确的检测结果避免了低劣传感器的漏检,提高了传感器的质量。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
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