[发明专利]薄膜结构的LED芯片及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201711067896.5 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN107910406A 公开(公告)日: 2018-04-13
发明(设计)人: 黄慧诗;张秀敏;华斌;郑宝玉 申请(专利权)人: 江苏新广联半导体有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32;H01L33/38;H01L33/62
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 代理人: 曹祖良,刘海
地址: 214192 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 结构 led 芯片 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种薄膜结构的LED芯片及其制造方法,属于半导体技术领域。

背景技术

在强光手电、汽车大灯等高输出光密度的应用领域,传统LED芯片因热阻高、散热差的问题,单颗芯片驱动电流无法进一步提高,制约了LED在高输出光密度领域的应用。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种薄膜结构的LED芯片及其制造方法,具有热阻低、电流分布均匀、驱动电流大、输出光密度高等特点,有效解决了传统LED芯片的不足。

按照本发明提供的技术方案,所述薄膜结构的LED芯片,其特征是:包括硅基板,硅基板的下表面设置硅基板下电极,硅基板的上表面设置硅基板键合电极层,硅基板键合电极层的上表面设置芯片键合电极层,芯片键合电极层的上表面设置多个凹槽,在凹槽的底部和侧壁设置绝缘层,在凹槽中从下至上依次设置反射层、P-GaN层MQW量子阱;在所述芯片键合电极层的上表面覆盖N-GaN层,N-GaN层覆盖芯片键合电极层的上表面和凹槽的上部,N-GaN层与芯片键合电极层和MQW量子阱接触;在所述N-GaN层上设置开口,开口的底部暴露出反射层,在反射层上设置芯片正电极焊盘层。

所述薄膜结构的LED芯片的制造方法,其特征是,包括以下步骤:

步骤1:在蓝宝石衬底上生长LED外延结构,LED外延结构包括依次生长的N-GaN层、MQW量子阱和P-GaN层;

步骤2:在N-GaN层上刻蚀浅槽,浅槽由P-GaN层的上表面延伸至N-GaN层的上部;

步骤3:在P-GaN层上制作反射层;

步骤4:在晶圆表面制备绝缘层,并刻蚀绝缘层,使绝缘层形成多个不连续的部分,每个部分的绝缘层均包裹反射层、P-GaN层和MQW量子阱;

步骤5:在晶圆表面制作芯片键合电极层,芯片键合电极层通过浅槽与N-GaN层连接;

步骤6:将晶圆与蒸镀有键合层的硅基板键合,硅基板的一表面蒸镀硅基板下电极层,硅基板的另一表面蒸镀硅基板键合电极层,将芯片键合电极层与硅基板键合电极层进行键合;

步骤7:将蓝宝石衬底剥离,在剥离面进行刻蚀形成开口,开口由N-GaN层的表面延伸至反射层;

步骤8:在步骤7得到的开口处制作芯片正极焊盘层。

进一步的,所述反射层的金属为AgTiW。

进一步的,所述芯片键合电极层的金属依次为Cr/Al/Pt/Au/Sn,其中Sn层厚度不低于1μm。

进一步的,所述步骤6中,键合温度为250~350℃,键合压力为1000~5000N,键合时间为10~30min。

进一步的,所述芯片正极焊盘层的金属依次为Cr/Al/Pt/Au,其中Au层厚度不低于1um。

本发明所述薄膜结构的LED芯片及其制造方法,具有热阻低、电流分布均匀、驱动电流大、输出光密度高等特点,有效解决了传统LED芯片的不足。

附图说明

图1为本发明所述薄膜结构的LED芯片的结构示意图。

附图标记说明:1-N-GaN层、2-MQW量子阱、3-P-GaN层、4-反射层、5-绝缘层、6-芯片键合电极层、7-硅基板键合电极层、8-硅基板、9-硅基板下电极层、10-芯片正电极焊盘层。

具体实施方式

下面结合具体附图对本发明作进一步说明。

如图1所示,本发明所述薄膜结构的LED芯片包括硅基板8,硅基板8的下表面设置硅基板下电极9,硅基板8的上表面设置硅基板键合电极层7,硅基板键合电极层7的上表面设置芯片键合电极层6,芯片键合电极层6的上表面设置多个凹槽,在凹槽的底部和侧壁设置绝缘层5,在凹槽中从下至上依次设置反射层4、P-GaN层3和MQW量子阱2;在所述芯片键合电极层6的上表面覆盖N-GaN层1,N-GaN层1覆盖芯片键合电极层6的上表面和凹槽的上部;在所述N-GaN层1上设置开口,开口的底部暴露出反射层4,在反射层4上设置芯片正电极焊盘层10。

本发明所述薄膜结构的LED芯片的制造方法,包括以下步骤

步骤1:利用MOCVD设备在蓝宝石衬底上依次生长N-GaN层1、MQW量子阱2和P-GaN层3形成完整的LED外延结构,通过改变MQW量子阱2生长过程中温度和In、Al组分可以改变发光波长;

步骤2:利用正性光刻胶掩膜技术,制作掩膜图形,通过ICP刻蚀技术,将N-GaN层1上的浅槽刻蚀出来,浅槽由P-GaN层3的上表面延伸至N-GaN层1中;

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