[发明专利]一种基于图像的迟滞模型校正AFM扫描图像迟滞的方法有效

专利信息
申请号: 201711068122.4 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN108009995B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 张连生;陈小波;黄继超;黄强先;程真英;李红莉;李瑞君 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06K9/62
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 图像 迟滞 模型 校正 afm 扫描 方法
【权利要求书】:

1.一种基于图像的迟滞模型校正AFM扫描图像迟滞的方法,其特征在于:具体步骤如下:

(1)建立基于图像的迟滞模型,过程如下:

原子力显微镜使用压电陶瓷进行试样三维形貌扫描时,构造如下基于图像的迟滞模型:

校正迟滞后正向扫描图像的横从标:

校正迟滞后反向扫描图像的横从标:

其中pmax为扫描图像横坐标最大值,p1为试样上任意一点D在反向扫描图像中的横坐标,p2为试样上同一任意点D在校正迟滞后的图像中的横坐标,p3为试样上该任意点D在正向扫描图像的横坐标;

(2)使用原子力显微镜获得试样同一目标区域的正向扫描图像和反向扫描图像;

(3)根据步骤(2)获取的正向扫描图像和反向扫描图像进行特征点匹配,获得多组匹配的特征点分别在正向扫描图像和反向扫描图像中的坐标信息;

(4)根据步骤(3)获取的多组匹配的特征点的坐标信息,求解步骤(1)建立的迟滞模型的参数:

其中,n为匹配的特征点的组数,pmax为扫描图像的横坐标最大值;p1i为第i组匹配的特征点在反向扫描图像中的横坐标,p3i为第i组匹配的特征点在正向扫描图像中的横坐标,ki为根据第i组匹配的特征点求得的迟滞模型参数,k为根据n组匹配的特征点求得的迟滞模型参数的平均值;

(5)根据步骤(4)求解的迟滞模型分别对步骤(2)获取的正向扫描图像和反向扫描图像进行坐标变换重构,获得校正迟滞后的图像。

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