[发明专利]用于估计信号间的变换的信号处理器及方法

权利要求书

1.一种计算参考信号和待检信号之间的平移偏移的估计值的方法，所述方法包括：

提供待检信号的测量相位差值的集合；

对于多个候选平移偏移中的每一个，获得所述参考信号在候选平移偏移下的预期相位差值的集合，计算在所述候选平移偏移下的预期相位差值的集合中的每个预期相位差值和对应的测量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括预期相位差值和对应的测量相位差值之间的偏差，并计算在所述候选平移偏移下的所述相位偏差度量的总和，其中相位偏差度量的总和是针对对应的候选平移偏移计算的；以及

确定具有表示预期相位差值和对应的测量相位差值之间的最佳匹配的相位偏差度量的总和的候选平移偏移，其中与所述最佳匹配相关的候选平移偏移作为所述平移偏移的估计值。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述待检信号包括图像信号。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述待检信号包括从图像传感器采样的图像信号。

4.如权利要求1所述的方法，其中所述参考信号包括信号成分的集合，并且所述预期相位差值的集合与所述信号成分的相位相对应。

5.如权利要求4所述的方法，其中所述信号成分是频率成分，并且所述预期相位差值与所述频率成分的频率位置相对应。

6.如权利要求1所述的方法，其中所述待检信号包括一种版本的参考信号，并且使用所述相位偏差度量来确定所述一种版本的参考信号在所述待检信号中的平移偏移。

7.如权利要求6所述的方法，其中使用所述平移偏移来确定所述待检信号中的所述一种版本的参考信号和所述参考信号之间的变换。

8.如权利要求6所述的方法，其中所述参考信号与嵌入所述待检信号中的数字水印信号相对应，并且使用所述平移偏移来检测所述待检信号中的所述数字水印信号。

9.一种非暂时性计算机可读介质，在所述非暂时性计算机可读介质上存储有指令，当所述指令被一个或多个处理器执行时，所述指令执行计算参考信号和待检信号之间的平移偏移的估计值的方法，所述方法包括：

提供待检信号的测量相位差值的集合；

对于多个候选平移偏移中的每一个，获得所述参考信号在候选平移偏移下的预期相位差值的集合，计算在所述候选平移偏移下的预期相位差值的集合中的每个预期相位差值和对应的测量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括预期相位差值和对应的测量相位差值之间的偏差，并计算在所述候选平移偏移下的所述相位偏差度量的总和，其中相位偏差度量的总和是针对对应的候选平移偏移计算的；以及

确定具有表示预期相位差值和对应的测量相位差值之间的最佳匹配的相位偏差度量的总和的候选平移偏移，其中与所述最佳匹配相关的候选平移偏移作为所述平移偏移的估计值。

10.一种相位偏差电路，包括：

用于存储待检信号的测量相位差值的集合和参考信号的已知相位的集合的存储器；

相位偏差模块，用于对候选平移偏移计算所述参考信号的已知相位的集合中的每个已知相位和所述参考信号的对应测量相位差值的相位偏差度量，所述相位偏差度量包括预期相位差值和对应的测量相位差值之间的偏差，并且用于针对对应的候选平移偏移计算所述相位偏差度量的总和；以及

峰值确定模块，用于确定具有表示预期相位差值和对应的测量相位差值之间的最佳匹配的相位偏差度量的总和的候选平移偏移，其中与所述最佳匹配相关的候选平移偏移作为所述参考信号和所述待检信号之间的平移偏移的估计值。

11.如权利要求10所述的电路，包括精炼模块，所述精炼模块用于通过使用在所述平移偏移周围的子采样平移偏移下的相位偏差度量来计算精炼后的平移偏移而对所述平移偏移进行精炼，并且用于找出在所述子采样平移偏移下的所述相位偏差度量的总和的精炼后的峰值。