[发明专利]阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板

说明书

本发明提供了一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板，其中，阵列基板包括显示区和非显示区，非显示区设置有第一端子和第二端子，显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线，遮光电极与第一端子电性连通，公共电极线与第二端子电性连通，遮光电极与公共电极线电性绝缘。本发明方便监控遮光电极和像素电极之间是否因导电粒子而发生短路，以便检测和修复，进而提高产品良率。

【技术领域】

本发明涉显示技术领域，特别涉及一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板。

【背景技术】

液晶显示器具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶面板及背光模组(BacklightModule)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。

其中，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)由于具有低的功耗、优异的画面品质以及较高的生产良率等性能，近年来得到了飞速的发展和广泛的应用。具体而言，TFT-LCD可视为两片玻璃基板中间夹着一层液晶，上层的玻璃基板是彩色滤光片、下层的玻璃基板上设置有薄膜晶体管。当电流通过薄膜晶体管时，产生电场变化，电场的变化引起液晶分子偏转，从而来改变光线的偏极性，而实现预期的显示画面。

随着TFT-LCD的快速发展，像素设计也日益精进，陆续出现了3T技术、DBS(DataLine BM Less)技术。

其中，3T技术具体是三个TFT开关经由同一条栅极线(gate line)控制，在gate打开时，其中两个TFT分别给像素电极(Pixel)的主区(main)与子区(sub)充电，同时第三颗TFT会将一部分已经充入子区的电荷漏至阵列基板的公共电极线(Acom)上，拉低子区的电位，即通过保证主区与子区的电位差值来改善大视角。

其中，DBS技术具体是在数据线(Data line)上利用DBS com(DBS电极)的信号线取代传统的BM(Black Matrix，黑矩阵)，从而达到数据线上遮光的效果。DBS技术的应用，可以减小因BM对组不良等因素引起的减小像素开口率的弊端。

当DBS技术与3T技术结合使用时，一般会将Data line上的DBS com与第三颗TFT漏电的Acom通过过孔连接到一起，即给DBS com与Acom相同电位。为了追求更高的开口区面积，DBS电极与像素电极间距离会设计的比较近，当有较大particle(导电粒子)落在两者之间时，DBS电极与像素电极较容易发生short(短路)。尤其是像素电极的Sub区，但是，受第三颗TFT漏电至Acom的影响，无论是Sub区的像素电极还是DBS电极均无法保持恒定电位，使得Sub区像素电极与DBS电极间的short问题，不易检测和修复，造成良率损失。

【发明内容】

本发明的一个目的在于提供一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板，旨在保持像素电极以及DBS电极具有恒定的电位，从而方便监控像素电极短路的问题，以便及时修复，提高产品良率。

为解决上述问题，本发明的优选实施例提供了一种阵列基板，包括显示区和非显示区，所述非显示区设置有第一端子和第二端子，所述显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线，所述遮光电极与所述第一端子电性连通，所述公共电极线与所述第二端子电性连通，所述遮光电极与所述公共电极线电性绝缘。

在本发明优选实施例的阵列基板中，所述遮光电极与所述像素电极同层设置，所述公共电极线与栅极线同层设置。

在本发明优选实施例的阵列基板中，所述遮光电极呈网状，包括多个相互平行的水平部和多个相互平行的垂直部，多个所述水平部直接和多个垂直部相互连接，每一所述垂直部均与相邻两侧的所述垂直部连接。