[发明专利]标定方法及装置

权利要求书

1.一种标定方法，其特征在于，所述方法包括：

在预设标定范围内选取多个采样点，获取每个采样点到观察点的真实距离；获取每个采样点对应的像素位移；

基于所述像素位移与所述真实距离，从m个采样点中选取n个采样点进行多项式拟合，获取所述n个采样点对应的拟合距离多项式；

将所述m个采样点中剩余的(m-n)个采样点对应的像素位移分别代入所述n个采样点对应的拟合距离多项式，获取所述(m-n)个采样点对应的拟合距离；

获取所述m个采样点中的所述(m-n)个采样点对应的拟合距离与真实距离的(m-n)点方差；

从所有的所述(m-n)点方差中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取当前测量点的像素位移，并通过相似三角形计算获取所述当前测量点到所述观察点的初步距离；

将所述当前测量点的像素位移代入所述最佳拟合距离多项式，获取所述当前测量点的最佳拟合距离；

基于所述初步距离和所述最佳拟合距离，获取最终距离。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述初步距离和所述最佳拟合距离，获取最终距离，包括：

判断所述初步距离和所述最佳拟合距离的偏差是否大于预设阈值；

在为是时，选取所述最佳拟合距离作为最终距离；

在为否时，选取所述初步距离和所述最佳拟合距离的均值作为最终距离。

4.一种标定装置，其特征在于，所述装置包括：

采样模块，用于在预设标定范围内选取多个采样点，获取每个采样点到观察点的真实距离；

拟合模块，包括像素单元和拟合单元；所述像素单元，用于获取每个采样点对应的像素位移；所述拟合单元包括第一拟合子单元和第二拟合单元，所述第一拟合子单元用于基于所述像素位移与所述真实距离，从m个采样点中选取n个采样点进行多项式拟合，获取所述n个采样点对应的拟合距离多项式，所述第二拟合单元用于将所述m个采样点中剩余的(m-n)个采样点对应的像素位移分别代入所述n个采样点对应的拟合距离多项式，获取所述(m-n)个采样点对应的拟合距离；

筛选模块，包括方差单元和筛选单元；所述方差单元用于获取所述m个采样点中的所述(m-n)个采样点对应的拟合距离与真实距离的(m-n)点方差，所述筛选单元用于从所有的所述(m-n)点方差中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。