[发明专利]HVA焊垫共用结构

说明书

本发明涉及一种HVA焊垫共用结构。该HVA焊垫共用结构包括：一组用于共用的HVA焊垫，该组HVA焊垫包含n个时钟焊垫，用于输入直流高电位的m个直流高电位焊垫，用于输入直流低电位的一个直流低电位焊垫，以及分别对应于该n个时钟焊垫的n个时钟转换电路；其中m为大于1的自然数，表示共用该组HVA焊垫的晶片的数量，n为自然数：该n个时钟焊垫与对应的n个时钟转换电路分别连接以向对应的n个时钟转换电路分别输入相应的时钟信号，该m个直流高电位焊垫和一个直流低电位焊垫连接至各个时钟转换电路以向各个时钟转换电路输入m个直流高电位和一个直流低电位。本发明采用一组HVA焊垫即可同时对多个晶片提供信号进行检测或对液晶进行配向，减少制程时间。

技术领域

本发明涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种HVA焊垫共用结构。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

主动式液晶显示器中，每个子像素具有一个薄膜晶体管(TFT)，其栅极(Gate)连接至水平扫描线，漏极(Drain)连接至垂直方向的数据线，源极(Source)则连接至像素电极。在水平扫描线上施加足够的电压，会使得该条水平扫描线上的所有TFT打开，此时该条水平扫描线上的像素电极会与垂直方向上的数据线连通，从而将数据线上的显示信号电压写入像素，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果。目前主动式液晶显示面板水平扫描线的驱动主要由面板外接的芯片(IC)来完成，外接的IC可以控制各级水平扫描线的逐级充电和放电。阵列基板行驱动(Gate Driver On Array，简称GOA)技术，也就是利用现有薄膜晶体管液晶显示器阵列(Array)制程将栅极(Gate)行扫描驱动信号电路制作在Array基板上，实现对Gate逐行扫描的驱动方式。

目前市场上的TFT-LCD显示面板可分为三种类型，分别是扭曲向列(TN)或超扭曲向列(STN)型，平面转换(IPS)型、及垂直配向(VA)型。其中VA型液晶显示器相对其他种类的液晶显示器具有极高的对比度，在大尺寸显示，如电视等方面具有非常广的应用。而高垂直排列(HVA)模式是VA模式中一个重要的分支。HVA型液晶显示面板工作时是由阵列基板侧的像素电极和彩膜基板侧的公共电极形成的垂直电场来控制液晶层的液晶分子的旋转。液晶光配向技术是指在给液晶面板施加电压的情况下，通过紫外光照射，促使液晶中的单体反应，使液晶分子形成预倾角，从而达到液晶配向的目的。

在LCD生产过程中，通常因良率因素考虑，会需要在制程中的特定某个环节对该产品进行检测，找到存在的问题，以便对其进行修复来提升产品良率；若需要对产品进行检测，则需要对GOA电路及有效显示区(AA)进行通电，则需要环绕外围走线设置信号焊垫(pad)以便探针通电；在现如今GOA产品中，对高分辨率、大尺寸、高频率的需求日益旺盛，而要达到这些需求，在产品设计时需要增加额外的信号来分担阻容负载(RC loading)，以便主板(main-board)可以有足够的推力来维持信号稳定；举例来说，GOA产品中，从高清晰度(HD)分辨率所需要的4个时钟(CK)信号变为超高清晰度(UD)三栅极(Trigate)所需要的12个CK信号，这也使得检测设备需要每组探针新增8个探针以便对其进行检测；若从产能上考虑，一个光罩(mask)上包含多个晶片(chip)的图案，则制程中需要同时对多个chip进行检测或对液晶进行配向，现有设计需要相应增加焊垫数量，导致检测设备需要增加8×N(N为基板上chip个数)个探针，使得产品成本上增加太多，同时，过多的探针(pin)也导致产品设计上的排版空间紧张。

如图1A所示，其为现有正常(normal)HVA焊垫设计示意图；环绕晶片4的外围走线设置有多组HVA焊垫1，以及其他诸如阵列测试焊垫(Array test pad)2和成盒测试焊垫(cell test pad)3。