[发明专利]一种干扰定位方法及装置

权利要求书

1.一种干扰定位方法，其特征在于，包括：

根据磁性浮动轴的旋转角速度与编码器的旋转角速度之间关系，确定当所述磁性浮动轴完整旋转一圈时，所述编码器的计数总量；

根据所述编码器的计数总量，确定与所述磁性浮动轴的旋转周期匹配的至少一个计数器的计数参数，其中，所述计数参数包括：计数步长，和/或计数周期；

根据所述至少一个计数器的计数参数，以及所述至少一个计数器的实时计数结果，计算与所述实时计数结果匹配的所述磁性浮动轴的实时相位定位结果；

将所述磁性浮动轴的实时相位定位结果加入纸币磁性检测结果中，并建立所述实时相位定位结果与所述纸币磁性检测结果之间的对应关系，获得干扰相位的定位结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据磁性浮动轴的旋转角速度与编码器的旋转角速度之间关系，确定当所述磁性浮动轴完整旋转一圈时，所述编码器的计数总量，包括：

计算所述磁性浮动轴的旋转角速度与所述编码器的旋转角速度之间的比值；

获取所述编码器完整旋转一圈对应输出信号的计数总量；

将所述比值与所述编码器完整旋转一圈对应输出信号的计数总量的乘积结果，确定为所述磁性浮动轴完整旋转一圈对应的所述编码器的计数总量。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，根据所述编码器的计数总量，确定与所述磁性浮动轴的旋转周期匹配的至少一个计数器的计数参数，包括：

如果确定所述编码器的计数总量为整数，则将所述编码器的计数总量确定为与所述磁性浮动轴的旋转周期匹配的标准计数器的计数周期，并将所述标准计数器的计数步长确定为1；

如果确定所述编码器的计数总量不为整数，则构造整数计数器以及校正计数器，并根据所述编码器的计数总量，确定与所述磁性浮动轴的旋转周期匹配的所述整数计数器的整数计数参数以及所述校正计数器的校正计数参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述编码器的计数总量，确定与所述磁性浮动轴的旋转周期匹配的所述整数计数器的整数计数参数以及所述校正计数器的校正计数参数，包括：

获取对所述编码器的计数总量执行向上取整的操作结果，将所述操作结果确定为整数计数周期，并确定与所述整数计数周期对应的整数计数步长为1；

获取所述向上取整的操作对应的整数计数周期的计数误差，将所述计数误差的分子确定为校正计数步长。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述至少一个计数器的计数参数，以及所述至少一个计数器的实时计数结果，计算与所述实时计数结果匹配的所述磁性浮动轴的实时相位定位结果，包括：

获取所述校正计数器以所述计数误差的分子作为计数起始点，按照所述校正计数步长计数的校正计数结果；

如果确定所述校正计数结果大于等于设定阈值，则重新确定所述校正计数结果为更新校正计数结果与所述计数误差的分母的比值，其中，所述更新校正计数结果包括所述校正计数结果与所述设定阈值的差值；

根据所述整数计数器获取的整数计数结果，以及所述校正计数器获取的校正计数结果，确定所述实时计数结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述整数计数器获取的整数计数结果，以及所述校正计数器获取的校正计数结果，确定所述实时计数结果之后，包括：

获取所述编码器的计数总量为整数时对应的实时计数结果，或所述编码器的计数总量不为整数时对应的实时计数结果；

根据计算式获取所述实时计数结果匹配的所述磁性浮动轴的实时相位定位结果，其中，w代表实时相位定位结果，n_i代表所述实时计数结果，N代表所述磁性浮动轴完整旋转一圈时，所述编码器的计数总量，i∈[1,N]，且i为正整数，π代表180度。