[发明专利]一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法，校验系统包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、待测传感器、参考传感器和数据采集单元；信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接；声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上；待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接，待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置，待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。本发明的测试方法用于校验系统的测试，可提高校验的精确度。

技术领域

本发明属于非接触式局部放电测试技术领域，特别涉及一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法。

背景技术

非接触式局部放电超声传感是一种常用故障检测手段，其广泛应用于开关柜等电力设备故障检测中。准确的校验非接触式局部放电超声传感系统是获取准确、合理检测数据的基础，非接触式局部放电超声传感系统校验时，传感系统的位置对检测结果有较大的影响。目前，缺乏可准直定位的校验系统和测试方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种非接触式局部放电超声传感器校验系统，以解决上述存在的技术问题。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。

本发明的目的还在于提供一种非接触式局部放电超声传感器校验系统的测试方法，用于非接触式局部放电超声传感器校验系统的测试。

为达到上述目的，本发明采用以下技术方案。

一种非接触式局部放电超声传感器校验系统，包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、参考传感器和数据采集单元；信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接；声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上；待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接，待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置，待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。

进一步地，还包括：第二双轴位移平台和第三双轴位移平台；待测传感器固定设置在第二双轴位移平台上，参考传感器固定设置在第三双轴位移平台上。

进一步地，声源和十字激光器通过磁力吸盘固定在第一双轴位移平台上；待测传感器通过磁力吸盘固定在第二双轴位移平台上，参考传感器通过磁力吸盘固定在第三双轴位移平台上。

进一步地，还包括：面包板；第一双轴位移平台、第二双轴位移平台和第三双轴位移平台均设置在面包板上。

进一步地，待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均为20cm。

进一步地，信号发生器的信号输出端通过同轴电缆与声源的信号输入端相连接；待测传感器和参考传感器的信号输出端各通过一根同轴电缆与数据采集单元的信号输入端相连接。

一种非接触式局部放电超声传感器校验系统的测试方法，包括以下步骤：

步骤1：打开十字激光器，调节第一双轴位移平台的高度至其高度行程的中间位置；

步骤2：观测十字激光器输出的十字靶与待测传感器和参考传感器的接收端的相对位置，调节第一双轴位移平台的水平位置直至十字靶的纵线位于待测传感器和参考传感器之间；

步骤3：调节待测传感器和参考传感器关于十字靶的中心对称；

步骤4：调节声源的出声口至原十字激光器的发射口的位置；

步骤5：打开信号发生器和数据采集单元，调节信号发生器的输出电压和频率，观测待测传感器和参考传感器在数据采集单元上显示的信号幅值，计算获得待测传感器的响应度。

进一步地，步骤3具体包括：